VCSELとフォトダイオードの測定値を同期させる方法

モジュラー型 PXIe 高精度 SMU
+ モジュラーPXIe高精度SMU

VCSELとフォトディオードの測定を同期

面発光レーザー(VCSEL)の光-電流-電圧(LIV)特性評価では、レーザー駆動電流とそれに対応する光応答の測定が必要です。VCSELが狭パルスで動作する場合、モニターフォトディオード(PD)の電流をパルス光出力と同期して測定する必要があります。したがって、測定セットアップには、十分な応答帯域幅、高速サンプリング、およびVCSEL励起とPD測定間の制御されたタイミングが必要です。

このテストでは、対応するパルス間隔内でモニターPD電流を測定しながら、VCSELにパルス電流を印加します。正確なタイミングにより電気的励起と光応答測定が位置合わせされ、波形キャプチャによりパルス中の応答を可視化できます。同期された電流およびPD測定により、光パワー応答、スロープ効率、キンク挙動などのLIV特性の評価に必要なデータが得られます。

VCSELとPDの同期測定ソリューション

同期LIVテストでは、VCSEL駆動パルスと同じ時間間隔内でフォトディオード応答を測定する必要があります。キーサイトの高精度PXIeソース・メジャー・ユニット(SMU)は、直流(DC)からパルスまでのVCSELおよびフォトディオード測定をサポートし、短パルス測定ウィンドウでの低ノイズ測定、波形キャプチャのための高速サンプリング、および正確な同期タイミング制御を実現します。1ペアの高精度PXIeソース・メジャー・ユニット(SMU)をVCSELおよびPD測定用に構成でき、一方がVCSEL駆動電流を供給し、もう一方が対応するPD応答を測定します。また、このソリューションは、暗電流特性評価のためのDC測定において最大100 fAという低電流測定分解能もサポートしています。

VCSELおよびPD同期測定ソリューションのブロック図

VCSELとフォトダイオードの測定値を同期させる方法

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