Comment améliorer la précision des mesures pulsées des VCSEL
Réduire les erreurs de mesure liées aux impulsions courtes
La caractérisation d'un laser à cavité verticale à émission par la surface (VCSEL) à impulsions étroites nécessite de maîtriser les erreurs de mesure introduites entre l'unité source/mesure (SMU) et le dispositif testé. L'impédance du câble peut entraîner des chutes de tension, tandis que l'inductance du câble peut affecter la réponse transitoire et provoquer un dépassement. Ces effets deviennent plus importants lors des mesures en mode pulsé et peuvent entraîner un écart entre la forme d'onde de tension ou de courant mesurée et la réponse réelle du dispositif.
Le montage de mesure nécessite une détection de tension plus proche du dispositif et un chemin de connexion adapté aux impulsions transitoires rapides. La comparaison des réponses transitoires mesurées permet d’identifier les différences dues à la configuration de détection et aux caractéristiques du câble. Pour les impulsions courtes, la réduction de l’inductance du câble permet également d’obtenir une impulsion de courant plus nette, avec moins de dépassement, ce qui améliore les conditions électriques utilisées pour la caractérisation « lumière-courant-tension » (LIV).
Solution de mesure précise des impulsions VCSEL
Schéma fonctionnel d'une solution de mesure pulsée précise par VCSEL
Découvrez les produits de notre solution de mesure pulsée VCSEL de haute précision
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Unité de mesure et de génération de signaux PXIe M9602A, 1 pA
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M9603A : Unité de source/mesure de précision PXIe, 100 fA
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Ressources supplémentaires pour les mesures avec l'unité de source/mesure (SMU) PXIe de précision
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