Cómo optimizar el rendimiento de los pulsos de los VCSEL

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Optimización del rendimiento de los VCSEL de pulso estrecho

Las pruebas de pulsos con láseres de cavidad vertical y emisión superficial (VCSEL) requieren controlar la forma de onda de la corriente suministrada al dispositivo sometido a prueba (DUT). El pulso de salida real puede variar en función de la impedancia del DUT, lo que provoca que la forma de onda medida difiera de los ajustes programados de la fuente. Por lo tanto, es necesario evaluar la amplitud del pulso, el tiempo de subida, el comportamiento de estabilización y la forma del pulso en el dispositivo conectado, en lugar de deducirlos únicamente a partir de los parámetros configurados de la fuente.

La prueba aplica un pulso de corriente de baja amplitud mientras captura la forma de onda de salida real y ajusta los parámetros de la fuente para el dispositivo bajo prueba (DUT) conectado. Los ingenieros pueden comparar las respuestas al pulso a medida que se ajustan los parámetros y verificar que la forma de onda resultante proporcione la amplitud y la forma de pulso previstas. Este proceso de medición permite realizar una caracterización repetible de los pulsos en dispositivos VCSEL con diferentes condiciones de impedancia.

Solución optimizada para el rendimiento de los pulsos VCSEL

Para optimizar el rendimiento de los pulsos de los VCSEL es necesario medir la forma de onda real de la corriente y ajustar los parámetros de la fuente en función de la impedancia del dispositivo conectado. La unidad de fuente y medida (SMU) Precision PXIe de Keysight incorpora una utilidad de ajuste que adapta los parámetros de la SMU para obtener un rendimiento óptimo de los pulsos en diferentes condiciones de impedancia del dispositivo bajo prueba (DUT). Dado que la impedancia del DUT puede alterar el pulso de salida real con respecto a los ajustes programados, la función integrada de medición de formas de onda permite visualizar la forma de onda de la corriente suministrada. La unidad de fuente y medida (SMU) Precision PXIe de Keysight también admite la generación de pulsos de corriente estrechos de hasta 10 µs y mediciones integradas de alta velocidad de hasta 15 MSa/s, lo que permite evaluar los ajustes de los pulsos y el comportamiento transitorio resultante dentro de la misma plataforma de medición.
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