Como otimizar o desempenho do pulso do VCSEL

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Otimização do desempenho do VCSEL de pulso estreito

Os testes pulsados com laser de emissão superficial em cavidade vertical (VCSEL) exigem o controle da forma de onda da corrente fornecida ao dispositivo em teste (DUT). O pulso de saída real pode variar de acordo com a impedância do DUT, fazendo com que a forma de onda medida difira das configurações programadas da fonte. A amplitude do pulso, o tempo de subida, o comportamento de estabilização e a forma do pulso precisam, portanto, ser avaliados no dispositivo conectado, em vez de serem inferidos apenas a partir dos parâmetros configurados da fonte.

O teste aplica um pulso de corrente estreito enquanto captura a forma de onda de saída real e ajusta os parâmetros da fonte para o DUT conectado. Os engenheiros podem comparar as respostas aos pulsos à medida que as configurações são ajustadas e verificar se a forma de onda resultante apresenta a amplitude e a forma de pulso pretendidas. Esse processo de medição permite a caracterização repetível de pulsos em dispositivos VCSEL com diferentes condições de impedância.

Solução otimizada para o desempenho de pulsos de VCSEL

A otimização do desempenho dos pulsos do VCSEL requer a medição da forma de onda real da corrente e o ajuste dos parâmetros da fonte de acordo com a impedância do dispositivo conectado. A Unidade de Fonte/Medição (SMU) Precision PXIe da Keysight oferece um utilitário de ajuste que configura os parâmetros da SMU para obter o desempenho ideal dos pulsos sob diferentes condições de impedância do DUT. Como a impedância do DUT pode alterar o pulso de saída real em relação às configurações programadas, o recurso integrado de medição de forma de onda permite visualizar a forma de onda da corrente fornecida. A Unidade de Fonte/Medição (SMU) Precision PXIe da Keysight também suporta geração de pulsos de corrente estreitos de até 10 µs e medição integrada de alta velocidade de até 15 MSa/s, permitindo que as configurações de pulso e o comportamento transiente resultante sejam avaliados na mesma plataforma de medição.
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