這是我們認為您想查看的頁面. 觀看搜尋結果:

矽光子晶圓測試系統

NX5402A矽光子晶圓測試系統配備全自動晶圓探針機，提供量產測試所需的所有功能，例如晶圓級測試（WAT）或製程控制監控（PCM）測試。

產品影像

  • 附加功能

    One-pass optical & electrical test

  • 最大量測針腳數

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • 最小電壓量測解析度

    N/A

  • 最小電流量測解析度

    N/A

準備好取得報價

瞭解包含哪些項目，並探索 Keysight 提供的可用升級選項。

焦點訊息

  • 一站式整合解決方案具備光學/電氣測試功能，適用於全自動晶圓探測器
  • 自動化一次通過測試，適用於複雜且大規模的光學和電氣量測
  • 可供量產 具備 SECS/GEM 工廠自動化、安全互鎖和無塵室適用功能
  • 高吞吐量測試 ：透過最佳化的光纖對準和多通道光學/電氣測試架構實現。
  • 系統性能保證：由 Keysight 的先進晶圓級光子校驗提供。
  • 專屬支援模式實現高生產系統可用性
  • Keysight 開發的光纖對準和定位系統
  • 整合 Keysight SPECS 的尖端 PathWave 半導體測試軟體
  • 透過內建自動系統診斷實現可靠的性能監控
  • 自動化多配方執行軟體，可讓多個配方以批次模式執行

服務與支援