Siliziumphotonik-Wafer-Testsystem

Das NX5402A Silicon Photonics Wafer Test System bietet alle erforderlichen Funktionen für Serienproduktionstests wie WAT oder PCM mit einem vollautomatischen Wafer-Prober.

Produktbild
  • Additional features

    One-pass optical & electrical test

  • Maximum number of measurement pins

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • Minimum voltage measurement resolution

    N/A

  • Minimum current measurement resolution

    N/A

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Highlights

  • Komplettlösung mit optischen/elektrischen Testfunktionen für vollautomatische Wafer-Prober
  • Automatisierte Ein-Pass-Prüfung für komplexe und umfangreiche optische und elektrische Messungen
  • Serienreif dank SECS/GEM-Fabrikautomatisierung, Sicherheitsverriegelung und Reinraumfunktionen
  • Hochdurchsatzprüfung durch optimierte Faserausrichtung und optische/elektrische Mehrkanal-Testarchitektur
  • Keysight garantiert Systemleistung Advanced Photonische Kalibrierung auf Wafer-Ebene
  • Dediziertes Supportmodell, das eine hohe Systemverfügbarkeit für die Produktion ermöglicht
  • Von Keysight entwickeltes Faserausrichtungs- und Positionierungssystem
  • Spitzentechnologie PathWave Semiconductor Testsoftware mit Integration von Keysight SPECS
  • Zuverlässige Leistungsüberwachung durch integrierte automatische Systemdiagnose
  • Automatisierte Software zur Ausführung mehrerer Rezepte, die es ermöglicht, mehrere Rezepte im Batch-Modus auszuführen.