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言語
パラメトリックテストソリューション パラメトリック検証用のウェハーレベルテストシステム
モデル: NX5402A
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シリコンフォトニクスウェハーテストシステム
NX5402A シリコンフォトニクス・ウェハ・テスト・システムは、完全自動化されたウェハ・プローバーと組み合わせることで、WAT や PCM などの量産テストに必要なすべての機能を提供します。
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追加機能
One-pass optical & electrical test
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最大測定ピン数
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
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最小電流測定分解能
N/A
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