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シリコンフォトニクスウェハーテストシステム

NX5402A シリコンフォトニクス・ウェハ・テスト・システムは、完全自動化されたウェハ・プローバーと組み合わせることで、WAT や PCM などの量産テストに必要なすべての機能を提供します。

製品画像

  • 追加機能

    One-pass optical & electrical test

  • 最大測定ピン数

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • 最小電流測定分解能

    N/A

  • 最小電流測定分解能

    N/A

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同梱品をご確認いただき、キーサイトが提供する利用可能なアップグレードオプションをご覧ください。

ハイライト

  • 光学/電気試験機能を備えた完全自動化ウェーハプローバー向けワンストップ統合ソリューション
  • 複雑で大規模な光および電気測定のための自動ワンパス・テスト
  • 量産対応済み（SECS/GEMファクトリーオートメーション、安全インターロック、クリーンルーム対応機能付き）
  • 最適化されたファイバーアライメントとチャネル テストアーキテクチャによる高スループットテスト
  • キーサイトのAdvanced Wafer-Level Photonic Calibrationによるシステム性能の保証
  • 生産における高いシステム可用性を実現する専用サポートモデル
  • キーサイトが開発した光ファイバーアライメントおよび位置決めシステム
  • Keysight SPECSと統合された最先端の PathWave Semiconductor Test ソフトウェア
  • 内蔵自動システム診断による信頼性の高い性能監視
  • 複数のレシピをバッチモードで実行できる自動マルチレシピ実行ソフトウェア

サービスとサポート