Sistema de prueba de obleas de fotónica de silicio

El sistema de pruebas de obleas fotónicas de silicio NX5402A ofrece todas las funciones necesarias para las pruebas de producción en serie, como WAT o PCM, con un probador de obleas totalmente automatizado.

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  • Additional features

    One-pass optical & electrical test

  • Maximum number of measurement pins

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • Minimum voltage measurement resolution

    N/A

  • Minimum current measurement resolution

    N/A

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Destacados

  • Solución integrada integral con capacidades de prueba óptica/eléctrica para probador de obleas totalmente automatizado.
  • Pruebas automatizadas de una sola pasada para mediciones ópticas y eléctricas complejas y masivas.
  • Listo para la producción en serie con SECS/GEM Automatización industrial, enclavamiento de seguridad y características aptas para salas blancas.
  • Pruebas de alto rendimiento mediante la alineación optimizada de la fibra y una arquitectura de pruebas ópticas/eléctricas multicanal.
  • Rendimiento del sistema garantizado gracias a la calibración fotónica Advanced de Keysight
  • Modelo de soporte dedicado que permite una alta disponibilidad del sistema para la producción.
  • Sistema de alineación y posicionamiento de fibra desarrollado por Keysight
  • Software PathWave Semiconductor Test de última generación que integra Keysight SPECS
  • Supervisión fiable del rendimiento mediante el sistema de diagnóstico automático integrado.
  • Software de ejecución automatizada de múltiples recetas que permite ejecutar varias recetas en modo por lotes.