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Suite integrata di fisica
Colmare il divario tra progettazione e test fisici per valutare la conformità in termini di cadute, urti, scossoni e vibrazioni prima ancora che l’hardware sia stato realizzato.
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Convalida end-to-end per i data center dedicati all'intelligenza artificiale
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Introduzione ai broker di pacchetti potenziati dall'intelligenza artificiale
Grazie alla memoria e allo spazio di archiviazione aggiuntivi, questi NPB potenziati eseguono il software di sicurezza e monitoraggio delle prestazioni AI di Keysight e lo stack AI.
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Accelerare l'innovazione nel settore dei semiconduttori
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Accelerare il motore dell'innovazione
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Generazione di forme d'onda a 448 Gb/s
Raggiungete segnali modulati a più livelli di 200+ Gbaud con AWG ad alta velocità per standard digitali e ottici.
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È il collegamento giusto a determinare la precisione della misurazione
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- Soluzioni
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Note applicative autorevoli, schede tecniche, progetti di riferimento e procedure di collaudo per accelerare le decisioni relative alla progettazione e alla convalida.
In primo pianobootcamps pratici bootcamps insegnano la progettazione di sistemi, i metodi di collaudo e i flussi di lavoro di produzione che gli ingegneri possono mettere in pratica immediatamente.
Storie di successo
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Accesso rapido alle attività di auto-aiuto relative al supporto.
Contenuti aggiuntivi per supportare le vostre esigenze di prodotto.
Fare di più con i servizi KeysightEsplorate i servizi per accelerare ogni fase del vostro percorso di innovazione.
LINGUA
Soluzioni di test parametrici Sistemi di test a livello di wafer per la convalida parametrica
Modello: NX5402A
prev
- Panoramica
- Opzioni
- Accessori
- Software
- Supporto
Sistema di test per wafer fotonici al silicio
Il sistema di test per wafer fotonici in silicio NX5402A offre tutte le funzionalità necessarie per i test di produzione in serie, come WAT o PCM, con un wafer prober completamente automatizzato.
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Additional features
One-pass optical & electrical test
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Maximum number of measurement pins
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
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Minimum voltage measurement resolution
N/A
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Minimum current measurement resolution
N/A
Pronto per un preventivo
Scopri cosa è incluso ed esplora le opzioni di aggiornamento disponibili da Keysight.
Punti salienti
- Soluzione integrata completa con funzionalità di test ottici/elettrici per wafer prober completamente automatizzati
- Test automatizzato in un unico passaggio per misurazioni ottiche ed elettriche complesse e massicce
- Pronto per la produzione in serie con SECS/GEM Automazione industriale, interblocco di sicurezza e caratteristiche predisposte per camere bianche
- Test ad alta produttività grazie all'allineamento ottimizzato delle fibre e all'architettura di test ottico/elettrico multicanale
- Prestazioni del sistema garantite grazie alla calibrazione fotonica Advanced di Keysight
- Modello di assistenza dedicato che garantisce un'elevata disponibilità del sistema per la produzione
- Sistema di allineamento e posizionamento delle fibre sviluppato da Keysight
- Software all'avanguardia PathWave Semiconductor Test che integra Keysight SPECS
- Monitoraggio affidabile delle prestazioni grazie al sistema diagnostico automatico integrato
- Software automatizzato per l'esecuzione multipla di ricette che consente di eseguire più ricette in modalità batch
Servizi e assistenza
Innova rapidamente grazie a piani di assistenza personalizzati e tempi di risposta e risoluzione prioritari.
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Assicurati che il tuo sistema di test funzioni secondo le specifiche e soddisfi gli standard locali e globali.
Effettua misurazioni rapidamente grazie alla formazione interna con istruttore e all'e-learning.
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