Sistema di test per wafer fotonici al silicio

Il sistema di test per wafer fotonici in silicio NX5402A offre tutte le funzionalità necessarie per i test di produzione in serie, come WAT o PCM, con un wafer prober completamente automatizzato.

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  • Additional features

    One-pass optical & electrical test

  • Maximum number of measurement pins

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • Minimum voltage measurement resolution

    N/A

  • Minimum current measurement resolution

    N/A

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