Système de test de plaquettes pour photonique sur silicium

Le système de test de plaquettes photoniques en silicium NX5402A offre toutes les fonctionnalités requises pour les tests de production en série, tels que WAT ou PCM, grâce à un testeur de plaquettes entièrement automatisé.

image_produit
  • Additional features

    One-pass optical & electrical test

  • Maximum number of measurement pins

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • Minimum voltage measurement resolution

    N/A

  • Minimum current measurement resolution

    N/A

Prêt pour un devis

Découvrez ce qui est inclus et explorez les options de mise à niveau disponibles auprès de Keysight.

Points forts

  • Solution intégrée tout-en-un avec capacités de test optique/électrique pour testeur de plaquettes entièrement automatisé
  • Test automatisé en un seul passage pour des mesures optiques et électriques complexes et massives
  • Prêt pour la production en série avec SECS/GEM Automatisation industrielle, verrouillage de sécurité et fonctionnalités adaptées aux salles blanches
  • Tests à haut débit grâce à un alignement optimisé des fibres et à une architecture de test optique/électrique multicanaux
  • Performances système garanties grâce à la technologie Advanced d'étalonnage photonique Advanced de Keysight
  • Modèle d'assistance dédié permettant une haute disponibilité du système pour la production
  • Système d'alignement et de positionnement de fibres optiques développé par Keysight
  • Logiciel de pointe PathWave Semiconductor Test intégrant Keysight SPECS
  • Surveillance fiable des performances grâce au système de diagnostic automatique intégré
  • Logiciel d'exécution automatisée de plusieurs recettes permettant d'exécuter plusieurs recettes en mode batch