Highlights

  • One-stop integrated solution with optical/electrical test capabilities for fully-automated wafer prober
  • Automated one pass testing for complex and massive optical and electrical measurements
  • Volume production-ready with SECS/GEM Factory Automation, safety interlock, and clean room-ready features
  • High throughput testing by optimized fiber alignment and multi-channel optical/electrical test architecture
  • Guaranteed system performance by Keysight's Advanced Wafer-Level Photonic Calibration
  • Dedicated support model enabling high system availability for production
  • Keysight-developed Fiber Alignment and Positioning System
  • Leading-edge PathWave Semiconductor Test software integrating Keysight SPECS
  • Reliable performance monitoring by Build-in Automatic System Diagnostics
  • Automated Multi-Recipe Execution software enabling multiple recipes to run in batch mode

Principais especificações

Número máximo de canais de saída SPGU
n/a
Número Máximo de Pinos de Medição
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
Resolução Mínima de Medição de Corrente
n/a
Resolução Mínima de Medição de Tensão
n/a
Parallel Parametric Test Capability
não
Número máximo de canais de saída SPGU
Número Máximo de Pinos de Medição
Resolução Mínima de Medição de Corrente
Resolução Mínima de Medição de Tensão
Parallel Parametric Test Capability
n/a
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
n/a
n/a
não
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Características adicionais:
N/A
Form Factor:
N/A
Número Máximo de Pinos de Medição:
12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)
Número máximo de canais de saída SPGU:
n/a
Resolução Mínima de Medição de Corrente:
n/a
Resolução Mínima de Medição de Tensão:
n/a
Parallel Parametric Test Capability:
não
Type:
Silicon Photonics Wafer Test Solution

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