Acreditamos que esta é a página você estava procurando. Veja o resultado da pesquisa ao invés de:

Sistema de teste de wafer para fotônica de silício

O sistema de teste de wafer fotônico de silício NX5402A oferece todos os recursos necessários para testes de produção em volume, como WAT ou PCM, com um testador de wafer totalmente automatizado.

prod_image

  • Características adicionais

    One-pass optical & electrical test

  • Número Máximo de Pinos de Medição

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • Resolução Mínima de Medição de Tensão

    N/A

  • Resolução Mínima de Medição de Corrente

    N/A

Pronto para um orçamento

Descubra o que está incluído e explore as opções de atualização disponíveis da Keysight.

Destaques

  • Solução integrada completa com recursos de teste óptico/elétrico para testador de wafer totalmente automatizado
  • Teste automatizado de uma única passagem para medições ópticas e elétricas complexas e massivas
  • Pronto para produção em volume com SECS/GEM Automação industrial, intertravamento de segurança e recursos prontos para sala limpa
  • Testes de alto rendimento por meio do alinhamento otimizado de fibras e arquitetura de teste óptico/elétrico multicanal
  • Desempenho garantido do sistema pela calibração fotônica avançada em nível de wafer da Keysight
  • Modelo de suporte dedicado que permite alta disponibilidade do sistema para produção
  • Sistema de alinhamento e posicionamento de fibra desenvolvido pela Keysight
  • Software PathWave Semiconductor Test de ponta, integrando o Keysight SPECS
  • Monitoramento confiável do desempenho por meio do Diagnóstico Automático do Sistema Integrado
  • Software de execução automatizada de múltiplas receitas que permite a execução de várias receitas em modo batch.

Serviços e suporte