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Silicon Photonics wafer test system

NX5402A 실리콘 광자 웨이퍼 테스트 시스템은 WAT 및 PCM 테스트를 위한 완벽히 자동화된 웨이퍼 프로버를 제공하며 대량 생산 환경에서 필요한 모든 기능을 지원합니다.

제품 이미지

  • Additional features

    One-pass optical & electrical test

  • Maximum number of measurement pins

    12 (optical in), 12 (optical out), 30 (electrical)

  • Minimum voltage measurement resolution

    N/A

  • 최소 전류 측정 분해능

    N/A

견적 준비 완료

포함된 내용과 키사이트의 사용 가능한 업그레이드 옵션을 확인하십시오.

하이라이트

  • One-stop integrated solution with optical and electrical test capabilities for fully automated wafer probers
  • 복잡하고 방대한 광학 및 전기 측정을 위한 자동화된 온웨이퍼 테스트
  • SECS/GEM 공장 자동화, 안전 인터록 및 클린룸 지원 기능을 통해 대량 생산 지원
  • 최적화된 광선로 정렬과 다중 채널 광학/전기 테스트 아키텍처로 높은 처리량 테스트 지원
  • 키사이트의 고급 웨이퍼 레벨 광교정으로 시스템 성능 보장
  • 생산을 위한 높은 시스템 가용성을 제공하는 전용 지원 모델
  • 키사이트가 개발한 광섬유 정렬 및 위치 지정 시스템
  • 키사이트 SPECS와 통합된 최첨단 PathWave 반도체 테스트 소프트웨어
  • 내장 자동 시스템 진단을 통한 신뢰할 수 있는 성능 모니터링
  • Automated Multi-Recipe Execution Software Supporting Multiple Recipe Executions in Batch Mode

서비스 및 지원