주요 특징

  • 완전 자동화된 웨이퍼 프로버용 광학/전기 테스트 기능을 갖춘 원스톱 통합 솔루션
  • 복잡하고 방대한 광학 및 전기 측정을 위한 자동화된 원패스 테스트
  • SECS/GEM 공장 자동화, 안전 인터로크 및 청정실 대비 기능을 통한 대량 생산 대비
  • 최적화된 섬유 정렬 및 다중 채널 광/전기 테스트 아키텍처를 통한 높은 스루풋 테스트
  • 키사이트의 고급 웨이퍼 레벨 포토닉 교정으로 시스템 성능을 보장
  • 생산을 위한 높은 시스템 가용성을 활성화하는 전용 지원 모델
  • 키사이트에서 개발한 섬유 정렬 및 포지셔닝 시스템
  • 키사이트 사양을 통합하는 첨단 PathWave 반도체 테스트 소프트웨어
  • 내장된 자동 시스템 진단을 통한 안정적인 성능 모니터링
  • 배치 모드에서 여러 레시피를 활성화할 수 있는 자동화된 다중 레시피 실행 소프트웨어

주요 사양

최대 SPGU 출력 채널 수
사용불가
최대 측정 핀 수
12(optical in)+12(optical out), 30(electrical)
최소 전류 측정 분해능
사용불가
최소 전압 측정 분해능
사용불가
Parallel Parametric Test Capability
아니오
최대 SPGU 출력 채널 수
최대 측정 핀 수
최소 전류 측정 분해능
최소 전압 측정 분해능
Parallel Parametric Test Capability
사용불가
12(optical in)+12(optical out), 30(electrical)
사용불가
사용불가
아니오
더 보기
추가 기능:
사용불가
최대 측정 핀 수:
12(optical in)+12(optical out), 30(electrical)
최대 SPGU 출력 채널 수:
사용불가
최소 전류 측정 분해능:
사용불가
최소 전압 측정 분해능:
사용불가
Parallel Parametric Test Capability:
아니오
유형:
Silicon Photonics Wafer Test Solution

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