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實作訓練營,教授系統設計、測試方法和生產工作流程,工程師可立即應用。
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透過此專注的訓練營,獲得元件特性分析的專家級技能。透過影片課程、應用說明和 Keysight 值得信賴的手冊,您將學習使用業界標準方法和工具,提取從電容和閘極電荷到超低電阻等關鍵參數。
學習:
本次訓練營非常適合元件特性分析工程師、功率半導體研究人員和教育工作者,他們希望獲得實作參數測試技能。
第 1 課 - 半導體元件中的電容
探討不同類型的電容量測(擬靜態 CV 和高頻 CV),並展示它們可揭示哪些元件參數。同時也探討實務上的電容量測問題。
第 2 課 - 電容測量方法
定義電容量測方法及不同類型的電容錶。量測電容的最佳方法取決於特定應用。
應用說明
SiC MOSFET 的超低導通電阻測量
本應用指南概述使用 B1505A 功率元件分析儀/曲線追蹤儀來量測超低 Rds-on 的技巧。
第 3 課 - 準靜態電容測量
說明擬靜態電容量測及其重要性。務必理解這是一種元件響應,且準確度取決於量測過程的特性。
第 4 課 - 高頻電容測量
針對高頻電容量測提供重點說明。
靜態與動態閘極電荷量測
本應用指南可協助您了解閘極電荷量測,以達到最佳的電源電路設計效能。
參數量測
參數測試的定義是一個有趣且可能引發討論的問題。一般而言,參數測試涉及四種主要半導體元件的電氣測試與特性分析:電阻器、二極體、電晶體和電容器。本應用指南可協助工程師與研究人員在現在及未來多年內,對低功率與高功率元件進行準確的參數量測。
第 5 課 - 建置完整的 CV-IV 測量解決方案所需的組件
分享建立完整 CV-IV 量測解決方案所需的元件。理想的目標是在單一儀器或設定上完成完整的 CV 和 IV 量測。
透過數位學習套件強化半導體教學
本應用說明解釋了量測 MOSFET 的過程以及如何使用 SMU 確定 IV 量測結果。
如何精確測試與特性化碳化矽 (SiC) 元件的閘極電荷 (Qg)
本應用指南概述如何正確且有效率地使用動態/靜態參數分析儀來量測 Qg。
《參數測量手冊》——第 5 版
對於參與參數測試任何環節的工程師而言,本應用指南是一份極具價值的參考工具。
第 6 課 - 總結與延伸資源
總結電容量測對於元件參數特性分析的重要性,並提供更多資訊的額外資源。
硬體
B1500A 半導體元件參數分析儀/半導體特性分析系統主機
Keysight B1500A 半導體元件分析儀是完整的元件特性分析解決方案,支援多元的 IV、CV 和進階快速脈衝 IV 量測,而且量測可靠度絲毫不打折。
如何表徵低功耗積體電路
使用配備整合式脈衝發生器/數位化器及IV曲線測量軟體的SMU,對低功耗IC進行特性分析
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