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透過此專注的訓練營,獲得元件特性分析的專家級技能。透過影片課程、應用說明和 Keysight 值得信賴的手冊,您將學習使用業界標準方法和工具,提取從電容和閘極電荷到超低電阻等關鍵參數。
學習:
本次訓練營非常適合元件特性分析工程師、功率半導體研究人員和教育工作者,他們希望獲得實作參數測試技能。
第 1 課 - 半導體元件中的電容
本文探討了不同類型的電容測量方法(準靜態電壓-電流法與高頻電壓-電流法),並說明這些方法能揭示哪些類型的元件參數。文中亦針對電容測量的實際問題進行了探討。
第 2 課 - 電容測量方法
說明電容測量方法及各類電容計。最適合的電容測量方法將視具體應用而定。
第 3 課 - 準靜態電容測量
說明準靜態電容測量,以及為何準靜態測量至關重要。必須理解這屬於裝置的響應,其精確度取決於測量過程的特性。
第 4 課 - 高頻電容測量
針對「高頻電容測量」進行了深入淺出的說明。
第 5 課 - 建置完整的 CV-IV 測量解決方案所需的組件
提供建構完整的 CV-IV 測量解決方案所需的組件。理想情況下,目標是能夠在單一儀器或實驗裝置上完成完整的 CV 和 IV 測量。
第 6 課 - 總結與延伸資源
概述了電容測量對於元件參數特性分析的重要性,並提供進一步資訊的相關資源。
應用說明
參數量測
關於何謂參數測試,這是一個有趣的問題,且可能存在一些爭議。一般而言,參數測試涉及對四種主要半導體元件——電阻、二極體、電晶體和電容器——進行電氣測試與特性分析。本應用筆記能協助工程師與研究人員,無論是現在還是未來多年,都能對低功率與高功率元件進行精確的參數測量。
靜態與動態閘極電荷量測
本應用說明旨在協助您了解柵極電荷的測量方法,以實現最佳的電源電路設計效能。
SiC MOSFET 的超低導通電阻測量
本應用說明書概述了使用 B1505A 功率元件分析儀/曲線追蹤儀測量超低導通電阻 (Rds-on) 的技巧。
透過數位學習套件強化半導體教學
本應用說明解釋了量測 MOSFET 的過程以及如何使用 SMU 確定 IV 量測結果。
《參數測量手冊》——第 5 版
本應用說明書對於從事參數測試任何相關工作的工程師而言,是一份極具價值的參考工具。
如何精確測試與特性化碳化矽 (SiC) 元件的閘極電荷 (Qg)
本應用說明概述了如何正確且高效地使用動態/靜態參數分析儀來測量 Qg。
硬體
B1500A 半導體元件參數分析儀/半導體特性分析系統主機
Keysight B1500A 半導體元件分析儀是完整的元件特性分析解決方案,支援多元的 IV、CV 和進階快速脈衝 IV 量測,而且量測可靠度絲毫不打折。
如何表徵低功耗積體電路
使用配備整合式脈衝發生器/數位化器及IV曲線測量軟體的SMU,對低功耗IC進行特性分析
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