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學習半導體參數測試的電容量測基本知識。將涵蓋實際的電容量測問題以及如何避免常見錯誤。
學習：
第 1 課 - 半導體元件中的電容
討論不同類型的電容量測（準靜態 CV 和高頻 CV），並顯示它們可以揭示哪些類型的裝置參數。此外，還探討了實際的電容量測問題。
第 2 課 - 電容量測方法
定義電容測量方法和不同類型的電容計。測量電容的最佳方法取決於特定的應用。
第 3 課 - 準靜態電容量測
說明準靜態電容量測以及準靜態量測重要的原因。重要的是要瞭解這是一種裝置反應，精確度取決於量測製程的特性。
第 4 課 - 高頻電容量測
提供高頻電容量測的重點說明。
第 5 課 - 建立完整 CV-IV 量測解決方案所需的元件
分享建立完整 CV-IV 量測解決方案所需的元件。理想的目標是能夠在單一儀器或裝置上進行完整的 CV 和 IV 測量。
第 6 課 - 總結與其他資源
總結電容量測對裝置參數特性分析的重要性，並提供其他資源以獲得更多資訊。
應用說明
參數測量
何謂參數測試是一個有趣的問題，也可能會引起一些爭論。一般而言，參數測試涉及四種主要半導體裝置的電氣測試和特性分析：電阻、二極體、電晶體和電容器。本 App Note 可讓工程師和研究人員在目前和未來多年內，對低功率和高功率裝置進行準確的參數量測。
靜態與動態閘極電荷量測
本應用說明可協助您瞭解閘極電荷測量，以獲得最佳的功率電路設計效能。
SiC MOSFET 的超低導通電阻量測
本應用摘要概述使用 B1505A 功率元件分析儀/曲線追蹤器量測超低 Rds-on 的技巧。
數位學習套件強化半導體教學
本應用說明解釋了測量 MOSFET 的過程，以及使用 SMU 來確定 IV 測量。
參數測量手冊 - 第五版
對於參數測試任何方面的工程師而言，本應用筆記是非常寶貴的參考工具。
如何準確測試和表徵 SiC 元件的閘極電荷 (Qg)
本應用筆記概述如何正確有效地使用動態/靜態參數分析儀測量 Qg。
硬體
B1500A 半導體元件參數分析儀/半導體特性分析系統主機
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如何表徵低功耗積體電路
使用具備整合式脈衝器/數位儀和 IV 曲線量測軟體的 SMU 來測定低功耗 IC 的特性
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