Formación básica sobre caracterización paramétrica de semiconductores - Parte 2
- Cursos
- 12 elementos
Adquiere conocimientos de nivel experto en caracterización de dispositivos con este curso intensivo especializado. A través de lecciones en vídeo, notas de aplicación y el prestigioso manual de Keysight, aprenderás a extraer parámetros fundamentales —desde la capacitancia y la carga de puerta hasta la resistencia ultrabaja— utilizando métodos y herramientas estándar del sector.
Aprende:
- Fundamentos de la medición de la capacitancia (CV cuasiestática frente a CV de alta frecuencia) para el análisis de dispositivos.
- Soluciones CV-IV integradas para optimizar los flujos de trabajo de los ensayos.
- Medición de la carga de puerta conforme a la norma JEDEC para dispositivos de potencia de Si/SiC/GaN.
- Técnicas de precisión para lograr una resistencia en estado activo (Rds-on) ultrabaja en los MOSFET de SiC.
- Automatización de pruebas con Digital Learning Suite para laboratorios y el ámbito educativo.
Este curso intensivo es ideal para ingenieros especializados en la caracterización de dispositivos, investigadores en el campo de los semiconductores de potencia y docentes que deseen adquirir habilidades prácticas en la realización de pruebas paramétricas.
Lecciones
