半導体パラメトリック特性評価 – パート2
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この集中的なブートキャンプで、デバイス特性評価におけるエキスパートレベルのスキルを習得しましょう。ビデオレッスン、アプリケーションノート、およびキーサイトの信頼できるハンドブックを通じて、静電容量やゲート電荷から超低抵抗まで、業界標準の方法とツールを使用して重要なパラメータを抽出する方法を学びます。
学び：
- デバイス解析向けの静電容量測定の基礎 (準静的CVと高周波CV)。
- テストワークフローを効率化するための統合型CV-IVソリューション
- Si/SiC/GaNパワーデバイス向けのJEDEC準拠ゲートチャージ測定。
- SiC MOSFETにおける超低オン抵抗 (Rds-on) のための精密技術。
- ラボおよび教育向けのデジタルラーニングスイートによるテスト自動化。
このブートキャンプは、デバイス特性評価エンジニア、パワー半導体研究者、および実践的なパラメトリックテストスキルを習得したい教育者に最適です。
レッスン
