Treinamento básico de caracterização paramétrica de semicondutores - Parte 2
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Obtenha habilidades em nível de especialista em caracterização de dispositivos com este bootcamp focado. Por meio de aulas em vídeo, notas de aplicação e o confiável manual da Keysight, você aprenderá a extrair parâmetros críticos - desde capacitância e carga de porta até resistência ultrabaixa - usando métodos e ferramentas padrão do setor.
Aprenda:
- Fundamentos da medição de capacitância (quase estática vs. CV de alta frequência) para análise de dispositivos.
- Soluções CV-IV integradas para otimizar os fluxos de trabalho de testes.
- Medição de carga de porta em conformidade com JEDEC para dispositivos de potência Si/SiC/GaN.
- Técnicas de precisão para resistência ultra baixa (Rds-on) em MOSFETs de SiC.
- Automação de testes com o Digital Learning Suite para laboratórios e educação.
Esse bootcamp é ideal para engenheiros de caracterização de dispositivos, pesquisadores de semicondutores de potência e educadores que buscam habilidades práticas em testes paramétricos.
Lições
