Grundschulung zur parametrischen Charakterisierung von Halbleitern - Teil 2
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Lernen Sie die Grundlagen der Kapazitätsmessung für parametrische Halbleitertests kennen. Es werden praktische Fragen zur Kapazitätsmessung und zur Vermeidung häufiger Fehler behandelt. 

Lernen:

  • Kapazität in Halbleiterbauelementen, Kapazitätsmessverfahren
  • Quasistatische Kapazitätsmessungen, Hochfrequenz-Kapazitätsmessung
  • Erforderliche Komponenten für die Erstellung einer umfassenden CV-IV-Messlösung
Lektionen
Lektion 1 - Kapazität in Halbleiterbauelementen

Lektion 1 - Kapazität in Halbleiterbauelementen

Erörtert verschiedene Arten der Kapazitätsmessung (quasistatische CV und Hochfrequenz-CV) und zeigt, welche Arten von Bauteilparametern sie aufzeigen können. Auch praktische Fragen der Kapazitätsmessung werden angesprochen.
Lektion 2 - Kapazitätsmessverfahren

Lektion 2 - Kapazitätsmessverfahren

Definiert Methoden zur Kapazitätsmessung und die verschiedenen Arten von Kapazitätsmessgeräten. Welche Methode zur Kapazitätsmessung am besten geeignet ist, hängt von der jeweiligen Anwendung ab.
Lektion 3 - Quasistatische Kapazitätsmessung

Lektion 3 - Quasistatische Kapazitätsmessung

Erläutert die quasistatische Kapazitätsmessung und warum sie wichtig ist. Es ist wichtig zu verstehen, dass es sich um ein Geräteverhalten handelt und die Genauigkeit von den Eigenschaften des Messprozesses abhängt.
Lektion 4 - Hochfrequenz-Kapazitätsmessung

Lektion 4 - Hochfrequenz-Kapazitätsmessung

Bietet eine gezielte Erklärung der Hochfrequenz-Kapazitätsmessung.
Lektion 5 - Erforderliche Komponenten für die Erstellung einer CV-IV-Gesamtlösung

Lektion 5 - Erforderliche Komponenten für die Erstellung einer CV-IV-Gesamtlösung

Teilt die Komponenten, die für eine vollständige CV-IV-Messlösung erforderlich sind. Idealerweise ist es das Ziel, eine vollständige CV- und IV-Messung mit einem einzigen Gerät oder einer einzigen Einrichtung durchführen zu können.
Lektion 6 - Zusammenfassung und zusätzliche Ressourcen

Lektion 6 - Zusammenfassung und zusätzliche Ressourcen

Fasst zusammen, wie wichtig die Kapazitätsmessung für die parametrische Charakterisierung von Bauelementen ist, und bietet zusätzliche Ressourcen für weitere Informationen.
Die parametrische Messung

Applikationsberichte

Die parametrische Messung

Die Frage, was eine parametrische Prüfung ausmacht, ist interessant und kann möglicherweise diskutiert werden. Im Allgemeinen umfasst die parametrische Prüfung die elektrische Prüfung und Charakterisierung von vier Haupttypen von Halbleiterbauteilen: Widerstände, Dioden, Transistoren und Kondensatoren. Diese App Note ermöglicht es Ingenieuren und Forschern, genaue parametrische Messungen an Bauelementen mit niedrigem und hohem Stromverbrauch durchzuführen, und zwar sowohl jetzt als auch in vielen Jahren in der Zukunft.
Statische und dynamische Gate-Ladungsmessung

Applikationsberichte

Statische und dynamische Gate-Ladungsmessung

Dieser Anwendungshinweis hilft Ihnen, die Gate-Ladungsmessung für eine optimale Leistung der Leistungsschaltung zu verstehen.
Messungen des ultra-niedrigen Ein-Widerstands von SiC-MOSFETs

Applikationsberichte

Messungen des ultra-niedrigen Ein-Widerstands von SiC-MOSFETs

In dieser Application Note werden Tipps zur Messung extrem niedriger Rds-on-Werte mit dem B1505A Power Device Analyzer/Curve Tracer gegeben.

Verstärkung der Halbleiterlehre durch die Digital Learning Suite

Applikationsberichte

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In diesem Anwendungshinweis wird das Verfahren zur Messung von MOSFETS und die Verwendung einer SMU zur Bestimmung von IV-Messungen erläutert.
Das Handbuch der parametrischen Messtechnik - 5. Auflage

Applikationsberichte

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Dieser Anwendungshinweis ist ein unschätzbares Nachschlagewerk für Ingenieure, die sich mit allen Aspekten der parametrischen Prüfung beschäftigen.

Genaue Prüfung und Charakterisierung der Gate-Ladung (Qg) von SiC-Bauelementen

Applikationsberichte

Genaue Prüfung und Charakterisierung der Gate-Ladung (Qg) von SiC-Bauelementen

Dieser Anwendungshinweis beschreibt, wie man den dynamischen/statischen Parameteranalysator korrekt und effizient zur Messung von Qg einsetzt.
Zugehöriges Produkt
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Der Keysight B1500A Semiconductor Device Parameter Analyzer ist eine Komplettlösung für die Charakterisierung von Halbleiterbauelementen, die vielseitige Messfunktionen für IV-, CV- und hochmoderne schnelle gepulste IV-Messungen mit kompromissloser Messzuverlässigkeit unterstützt.
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