교육 과정 | 반도체 파라미터 특성 분석 기초 교육 - 2부

반도체 파라메트릭 특성화 기본 교육 - 2부

코스
12 품목

이 집중 부트캠프를 통해 디바이스 특성화에서 전문가 수준의 기술을 습득하십시오. 비디오 강의, 애플리케이션 노트 및 키사이트의 신뢰할 수 있는 핸드북을 통해 산업 표준 방법 및 도구를 사용하여 커패시턴스 및 게이트 전하부터 초저저항에 이르는 중요한 파라미터를 추출하는 방법을 배우게 됩니다.

학습:

디바이스 분석을 위한 정전 용량 측정 기본 원리(준정적 대 고주파 CV).
테스트 워크플로우를 간소화하는 통합 CV-IV 솔루션.
Si/SiC/GaN 전력 소자용 JEDEC 규격 게이트 전하 측정
SiC MOSFET의 초저 온 저항(Rds-on)을 위한 정밀 기술.
연구실 및 교육용 디지털 학습 스위트를 통한 테스트 자동화.

이 부트캠프는 실습 파라메트릭 테스트 기술을 습득하고자 하는 디바이스 특성화 엔지니어, 전력 반도체 연구원 및 교육자에게 이상적입니다.

레슨

제1강 - 반도체 소자의 정전용량

다양한 유형의 정전용량 측정법(준정적 CV 및 고주파 CV)에 대해 설명하고, 이를 통해 어떤 종류의 소자 파라미터를 파악할 수 있는지 보여줍니다. 또한 정전용량 측정 시 발생하는 실무적인 문제점들도 다루고 있습니다.

제2강 - 정전용량 측정 방법

정전용량 측정 방법과 다양한 종류의 정전용량 측정기를 설명합니다. 정전용량을 측정하는 데 가장 적합한 방법은 구체적인 용도에 따라 달라집니다.

제3강 - 준정적 정전용량 측정

준정적 정전용량 측정 방법과 준정적 측정이 중요한 이유를 설명합니다. 이는 소자의 응답 특성이며, 정확도는 측정 과정의 특성에 따라 달라진다는 점을 이해하는 것이 중요합니다.

제4강 - 고주파 정전용량 측정

고주파 정전용량 측정에 대해 체계적으로 설명합니다.

제5강 - 종합적인 CV-IV 측정 솔루션을 구축하는 데 필요한 구성 요소

종합적인 CV-IV 측정 솔루션을 구축하는 데 필요한 구성 요소를 공유합니다. 이상적으로는 단일 기기나 설정으로 CV 및 IV 측정을 모두 수행할 수 있도록 하는 것이 목표입니다.

제6강 - 요약 및 추가 자료

이 문서는 소자 파라미터 특성 분석에 있어 정전용량 측정이 얼마나 중요한지 요약하고, 더 자세한 정보를 얻을 수 있는 추가 자료를 제공합니다.

애플리케이션 노트

파라메트릭 측정

파라메트릭 테스트가 무엇을 의미하는지에 대한 질문은 흥미로운 주제이며, 아마도 약간의 논쟁의 여지가 있을 수 있습니다. 일반적으로 파라메트릭 테스트는 저항, 다이오드, 트랜지스터, 커패시터 등 네 가지 주요 유형의 반도체 소자에 대한 전기적 테스트 및 특성 분석을 포함합니다. 이 애플리케이션 노트는 엔지니어와 연구자들이 현재뿐만 아니라 향후 수년 동안 저전력 및 고전력 소자에 대해 정확한 파라메트릭 측정을 수행할 수 있도록 지원합니다.