如何驗證高速設計中的差分互連阻抗

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+ USB 向量網路分析儀

差分阻抗驗證

要驗證差分互連阻抗，必須對高速數位介面（例如通用序列匯流排（USB）、周邊元件互連快車（PCI Express）、乙太網路及其他串列通訊標準）中所使用的傳輸路徑進行精確特性分析。測量配置通常包含向量網路分析儀、電子校正模組以及時域分析軟體，用以取得寬頻散射參數測量值，並透過時域反射法（TDR）將其轉換為阻抗曲線。工程師無需對被測裝置進行實體修改，即可評估印刷電路板的走線、過孔、連接器、纜線組件以及差分傳輸路徑。

時域分析將測得的頻域數據轉換為阻抗與距離的關係資訊，從而能夠識別不連續點，並將其與傳輸路徑上的物理位置建立關聯。在單一工作流程中，即可評估差模與共模阻抗、回波損耗、插入損耗及反射特性。所得的測量結果不僅支援訊號完整性分析、測試夾具移除、通道驗證及設計優化，同時提供可直接用於模擬的數據，從而提升實測硬體性能與高速通道模型之間的關聯性。

差分互連解決方案

要精確驗證差分互連，必須結合寬頻散射參數測量與時域分析，以識別訊號路徑中的阻抗不連續點。此工作流程首先使用電子校準模組進行校準，接著透過向量網路分析儀進行寬頻測量。時域分析軟體將測得的散射參數轉換為阻抗輪廓，使工程師無需專用的時域反射儀，即可定位反射點、評估差分阻抗、執行夾具移除，並分析傳輸行為。此解決方案整合了 Streamline USB 向量網路分析儀、時域分析軟體以及電子校準模組，提供從校準數據擷取到自動化阻抗分析與報告生成的完整工作流程。工程師可藉此優化印刷電路板佈局、驗證連接器過渡、比較設計修訂版本、排除訊號完整性問題，並在原型釋出前驗證用於 USB、PCI Express、乙太網路及其他高速數位應用中的高速序列通道。

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