고속 설계에서 차동 상호 연결 임피던스를 검증하는 방법

+ USB 벡터 네트워크 분석기

차동 임피던스 검증

차동 인터커넥트 임피던스를 검증하려면 USB(Universal Serial Bus), PCI Express(Peripheral Component Interconnect Express), 이더넷 및 기타 직렬 통신 표준과 같은 고속 디지털 인터페이스에 사용되는 전송 경로에 대한 정확한 특성화가 필요합니다. 측정 구성에는 일반적으로 벡터 네트워크 분석기, 전자 교정 모듈 및 시간 영역 분석 소프트웨어가 포함되어 광대역 산란 파라미터 측정을 획득하고 시간 영역 반사 측정법(TDR)을 사용하여 이를 임피던스 프로파일로 변환합니다. 엔지니어는 테스트 대상 장치를 물리적으로 수정하지 않고도 인쇄 회로 기판 트레이스, 비아, 커넥터, 케이블 어셈블리 및 차동 전송 경로를 평가할 수 있습니다.

시간 영역 분석은 측정된 주파수 영역 데이터를 임피던스 대 거리 정보로 변환하여 전송 경로를 따라 불연속성을 식별하고 물리적 위치와 연관시킬 수 있도록 합니다. 차동 및 공통 모드 임피던스, 반사 손실, 삽입 손실 및 반사 동작을 단일 워크플로 내에서 평가할 수 있습니다. 결과 측정값은 신호 무결성 분석, 픽스처 제거, 채널 검증 및 설계 최적화를 지원하는 동시에 측정된 하드웨어 성능과 고속 채널 모델 간의 상관 관계를 개선하는 시뮬레이션 준비 데이터를 제공합니다.

차동 상호 연결 솔루션

정확한 차동 인터커넥트 검증을 위해서는 신호 경로 전체에서 임피던스 불연속성을 식별하기 위해 광대역 산란 파라미터 측정과 시간 영역 분석이 결합되어야 합니다. 워크플로는 전자 교정 모듈을 사용한 교정으로 시작하여 벡터 네트워크 분석기로 획득한 광대역 측정으로 이어집니다. 시간 영역 분석 소프트웨어는 측정된 산란 파라미터를 임피던스 프로파일로 변환하여 엔지니어가 전용 시간 영역 반사 측정기가 없어도 반사를 찾고, 차동 임피던스를 평가하고, 픽스처 제거를 수행하고, 전송 동작을 분석할 수 있도록 합니다. 이 솔루션은 Streamline USB 벡터 네트워크 분석기, 시간 영역 분석 소프트웨어 및 전자 교정 모듈을 결합하여 교정된 데이터 획득부터 자동화된 임피던스 분석 및 보고에 이르는 통합 워크플로를 제공합니다. 엔지니어는 프로토타입 출시 전에 인쇄 회로 기판 레이아웃을 최적화하고, 커넥터 전환을 검증하고, 설계 개정을 비교하고, 신호 무결성 문제를 해결하고, USB, PCI Express, 이더넷 및 기타 고속 디지털 애플리케이션에 사용되는 고속 직렬 채널을 검증할 수 있습니다.

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