如何對寬禁帶功率裝置進行特性分析

+ 功率元件分析儀 / 曲線追蹤器

精準量測寬能隙元件

寬能隙功率元件需要在寬廣的工作範圍內進行精準的電流-電壓（IV）、電容-電壓（CV）、閘極電荷及崩潰量測。可靠的結果取決於穩定的測試條件、適當的儀器校驗、降低的振盪，以及規劃完善的量測序列。由於碳化矽（SiC）和氮化鎵（GaN）元件具備快速切換速度和高崩潰電壓，這些因素對其而言尤其重要。

量測過程結合了適當的環境條件、儀器自我測試與自我校驗、最佳化脈衝時序，以及受控的量測模式，以提升重複性與可靠性。適當的電流合規性、脈衝量測技術以及最佳化的測試定序，有助於減少震盪、預防硬體保護事件，並為現代功率半導體元件產生一致的電子特性分析結果。

寬禁帶功率元件特性分析解決方案

寬能隙功率元件的精準特性分析需要一台儀器，其能夠在整個測試序列中維持穩定的操作條件，同時量測多個電子參數。Keysight Power Device Analyzer / Curve Tracer 將 IV、CV 和閘極電荷特性分析整合至單一平台中，同時提供專為高電壓和高電流半導體元件設計的量測模式。Easy Test Navigator 和 EasyEXPERT group+ 軟體簡化了量測設定、儀器自我測試、自我校驗以及自動資料收集。內建的量測控制、可配置的脈衝時序、可選取的追蹤模式以及量測保護功能，有助於在嚴苛的功率半導體特性分析過程中，減少震盪、提升量測重複性，並保護待測物與量測系統。

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