如何對寬禁帶功率裝置進行特性分析

功率元件分析儀/曲線追蹤儀
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精確測量寬禁帶元件

寬禁帶功率元件需要在寬廣的工作範圍內進行精確的電流-電壓(IV)、電容-電壓(CV)、閘極電荷及擊穿測量。 可靠的測量結果取決於穩定的測試條件、正確的儀器校準、降低振盪現象,以及周詳規劃的測量流程。由於碳化矽(SiC)和氮化鎵(GaN)元件具備快速的切換速度與高擊穿電壓,這些因素對其而言尤為重要。

該測量流程結合了適當的環境條件、儀器自檢與自校準、最佳化的脈衝時序,以及受控的測量模式,藉此提升重複性與可靠性。適當的電流符合性、脈衝測量技術,以及最佳化的測試序列,有助於減少振盪、防止硬體保護事件發生,並為現代功率半導體元件產生一致的電氣特性分析結果。

寬禁帶功率元件特性分析解決方案

要精確表徵寬禁帶功率元件,需要一款能在整個測試流程中維持穩定運作條件,同時測量多項電學參數的儀器。是德科技(Keysight)的功率元件分析儀/曲線追蹤儀將 IV、CV 及閘極電荷表徵整合於單一平台,並提供專為高電壓與高電流半導體元件設計的測量模式。 Easy Test Navigator 與 EasyEXPERT group+ 軟體可簡化測量配置、儀器自檢、自動校準及自動化資料擷取。內建的測量控制功能、可配置的脈衝定時、可選的波形追蹤模式,以及測量保護功能,有助於減少振盪、提升測量重複性,並在嚴苛的功率半導體特性分析過程中,同時保護被測裝置與測量系統。

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寬禁帶功率元件特性分析解決方案的方塊圖

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