Come caratterizzare i dispositivi di potenza a banda larga

Analizzatore di dispositivi di potenza / Curve Tracer
+ Analizzatore di dispositivi di potenza / Tracciatore di curve

Misurare con precisione i dispositivi a banda larga

I dispositivi di potenza a banda larga richiedono misurazioni accurate di corrente-tensione (IV), capacità-tensione (CV), carica di gate e rottura in un ampio intervallo operativo. L'affidabilità dei risultati dipende da condizioni di prova stabili, da una corretta calibrazione degli strumenti, dalla riduzione delle oscillazioni e da sequenze di misura ben pianificate. Questi fattori sono particolarmente importanti per i dispositivi in carburo di silicio (SiC) e nitruro di gallio (GaN) a causa delle loro elevate velocità di commutazione e delle elevate tensioni di rottura.

Il processo di misurazione combina condizioni ambientali adeguate, autotest e autocalibrazione degli strumenti, temporizzazione ottimizzata degli impulsi e modalità di misurazione controllate per migliorare la ripetibilità e l'affidabilità. Il corretto rispetto dei valori di corrente, le tecniche di misurazione a impulsi e la sequenza ottimizzata delle prove contribuiscono a ridurre le oscillazioni, a prevenire gli eventi di protezione dell'hardware e a produrre risultati di caratterizzazione elettrica coerenti per i moderni dispositivi a semiconduttori di potenza.

Soluzione per la caratterizzazione di dispositivi di potenza a banda larga

Una caratterizzazione accurata dei dispositivi di potenza a banda larga richiede uno strumento in grado di misurare molteplici parametri elettrici, mantenendo condizioni operative stabili per tutta la durata della sequenza di test. Il Power Device Analyzer / Curve Tracer di Keysight integra la caratterizzazione IV, CV e della carica di gate in un’unica piattaforma, fornendo al contempo modalità di misurazione progettate per dispositivi a semiconduttori ad alta tensione e alta corrente. I software Easy Test Navigator ed EasyEXPERT group+ semplificano la configurazione delle misurazioni, l’autotest dello strumento, l’autocalibrazione e la raccolta automatizzata dei dati. I controlli di misura integrati, la temporizzazione degli impulsi configurabile, le modalità di tracciamento selezionabili e le funzioni di protezione delle misurazioni contribuiscono a ridurre le oscillazioni, a migliorare la ripetibilità delle misurazioni e a proteggere sia il dispositivo in prova che il sistema di misura durante la caratterizzazione di semiconduttori di potenza particolarmente impegnativa.

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