Cómo caracterizar dispositivos de potencia de banda ancha

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Medir con precisión los dispositivos de banda ancha

Los dispositivos de potencia de banda ancha requieren mediciones precisas de corriente-tensión (IV), capacitancia-tensión (CV), carga de puerta y ruptura en un amplio rango de funcionamiento. La fiabilidad de los resultados depende de unas condiciones de ensayo estables, una calibración adecuada de los instrumentos, una oscilación reducida y secuencias de medición bien planificadas. Estos factores son especialmente importantes para los dispositivos de carburo de silicio (SiC) y nitruro de galio (GaN), debido a sus rápidas velocidades de conmutación y sus elevadas tensiones de ruptura.

El proceso de medición combina unas condiciones ambientales adecuadas, la autocomprobación y la autocalibración de los instrumentos, una sincronización optimizada de los pulsos y modos de medición controlados para mejorar la repetibilidad y la fiabilidad. El cumplimiento adecuado de los requisitos de corriente, las técnicas de medición por pulsos y la secuenciación optimizada de las pruebas contribuyen a reducir las oscilaciones, a evitar eventos de protección del hardware y a obtener resultados consistentes en la caracterización eléctrica de los dispositivos semiconductores de potencia modernos.

Solución para la caracterización de dispositivos de potencia de banda ancha

La caracterización precisa de los dispositivos de potencia de banda ancha requiere un instrumento capaz de medir múltiples parámetros eléctricos, manteniendo al mismo tiempo unas condiciones de funcionamiento estables a lo largo de toda la secuencia de pruebas. El analizador de dispositivos de potencia / trazador de curvas de Keysight integra la caracterización IV, CV y de carga de puerta en una única plataforma, al tiempo que ofrece modos de medición diseñados para dispositivos semiconductores de alta tensión y alta corriente. El software Easy Test Navigator y EasyEXPERT group+ simplifican la configuración de las mediciones, la autocomprobación del instrumento, la autocalibración y la recopilación automatizada de datos. Los controles de medición integrados, la sincronización de impulsos configurable, los modos de traza seleccionables y las funciones de protección de la medición ayudan a reducir las oscilaciones, mejoran la repetibilidad de las mediciones y protegen tanto al dispositivo sometido a prueba como al sistema de medición durante la exigente caracterización de semiconductores de potencia.
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