如何表徵氮化鎵開關性能

+ 動態功率元件分析儀／雙脈衝測試儀

特性化快速 GaN 切換行為

氮化鎵（GaN）功率元件的雙脈衝測試需要在擷取切換期間產生的快速電壓與電流轉態時，同時控制功率迴路、閘極迴路與直流（DC）鏈結迴路寄生效應。量測設定結合了感應式切換電路、閘極驅動器、負載電感、電壓與電流量測，以及具備足夠低的寄生效應與量測頻寬以支援 GaN 切換波形的待測裝置連線。

在測試期間，兩個閘極脈衝會建立所需的電流，並擷取元件的開啟與關閉行為。接著即可利用電壓、電流與閘極波形來特性化切換行為及相關的動態參數。GaN 特性化亦可包含動態汲源極導通電阻（Rds(on)），其中快速箝位電路可在切換轉態後量測低導通狀態汲極電壓。

GaN雙脈衝特性分析解決方案

GaN 雙脈衝測試需要具備低寄生效應的切換電路，以及能夠擷取快速切換轉態的高頻寬電壓與電流量測能力。Keysight Dynamic Power Device Analyzer / Double-Pulse Tester 結合了其儀器、探棒、安全系統、自動化控制軟體、自動校正常式、治具以及客製化的 GaN 測試板。這些測試板整合了直流（DC）鏈結與去交連電容、自訂閘極驅動器、探棒連線、校正常數，以及用於動態汲源極導通電阻（Rds(on)）量測的箝位電路。Keysight 的可重複且可靠的 GaN 特性化（R2GC）技術亦涵蓋了電流感測、元件連線以及可更換式閘極電阻。

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