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產品特性
- 可對寬能隙（SiC、GaN）功率半導體動態特性，進行可靠、可重複的量測。
- 可量測開啟、關閉、切換、反向恢復、閘極電荷等特性。
- 為 DUT 與使用者提供安全的測試環境。
- 可擴充、升級的模組化平台，可測試所有功率元件。
PD1500A 是現成可用的量測解決方案，讓您能輕鬆進行可靠、可重複的寬能隙半導體量測。 此平台可確保使用者安全，並可保護系統的量測硬體。
利用是德科技在量測科學領域的專業知識，此平台可提供可重複的 DPT 結果， 例如高頻測試（GHz 範圍）、低洩漏（fA 範圍），以及脈衝功率（1,500 A 電流，10 μs 解析度）等多項創新特性。 因此，是德科技可憑藉我們的獨特優勢，幫助您克服動態功率半導體分析的挑戰。
PD1500A 具備各種標準量測技術，例如探棒補償、偏移調整、偏移校正，以及共模雜訊拒斥。 這些技術全都使用創新的量測拓撲和布局。 專為此系統開發的半自動校驗例行程序（AutoCal），可修正系統增益和偏移誤差。 此系統亦使用解嵌入技術，以便對電流分流器中的寄生電感進行補償。
JEDEC 為全球微電子產業領導者，專職開發開放式標準，並定期出版各種刊物。 JEDEC 委員會針對各種不同的技術，制定了多元的產業標準，以協助業者建立領導地位。
JEDEC 委員會：JC-70 寬能隙功率電子轉換半導體
JEDEC 委員會深知為功率半導體產業提供 WBG 標準的必要性。 於是 JEDEC 在 2017 年 9 月成立了JC70 寬能隙功率電子轉換半導體委員會，負責制定 GaN JC70.1 和 SiC JC-70.2 標準。每個領域都有三個工作小組，專注於開發可靠性和鑒定程序、資料手冊元素和參數，以及測試和特性分析方法。
是德科技積極參與這些標準的開發工作。
隨著 JEDEC 持續定義 WBG 元件的動態測試，業界亟需進行某些標準化測試。 Keysight PD1500A DPT 可協助您確認下列關鍵效能指標：
- 開啟特性
- 關閉特性
- 動態導通電阻
- 動態電流和電壓
- 切換特性
- 反向恢復
- 閘極電荷
- 導出的輸出特性
主要技術規格
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