如何實現全面的內嵌式積體電路結構篩選

索取報價
電氣結構測試儀
+ 電氣結構測試儀
電氣結構測試儀
+ 電氣結構測試儀

產線內結構篩選

產線內 IC 結構篩選在製造過程中透過量測電氣特性來評估每個半導體封裝，這些特性可在最終功能測試前揭露結構異常。此方法補充了傳統的自動測試設備與自動 X 光檢測，能識別透過開短路測試或有限抽樣檢測無法偵測到的缺陷。

量測過程採用電容式感測技術來分析導線架和打線等內部導電結構之間的耦合。統計設定檔分析將每個元件與生產基準進行比較，從而在維持高產量製造線連續檢測的同時，能夠自動偵測結構異常。

在線結構篩選解決方案

實現全面的產線內（inline）IC 結構篩選，需要在不降低製造產能的情況下，將高速電氣檢測系統直接整合到半導體生產流程中。該解決方案結合了 Keysight 電氣結構測試儀與電容式無向量測試增強探針技術，可在自動測試設備（ATE）測試後立即檢測內部封裝結構。該系統能偵測傳統電氣或 X 光檢測可能無法單獨識別的結構缺陷，包括導線下垂、接近短路、晶粒放置錯誤和異常的封裝結構。內建的零件平均測試分析功能可持續監控生產變異，並動態更新篩選極限以減少誤判。該解決方案支援高達 20 個並行測試站點，產能高達每小時 72,000 個單位，可為高產量車用半導體製造實現完整的產線內檢測，同時減少漏檢缺陷並提升產品品質。
索取報價

查看產線內結構篩選解決方案的方塊圖

內嵌式 IC 結構篩選解決方案的系統方塊圖

探索我們產線內 IC 結構篩選解決方案中的產品

相關應用案例

如何檢測隱藏的線接合缺陷

運用電容式結構檢測技術，偵測大量生產汽車半導體製造過程中隱藏的線鍵接缺陷。

了解更多

如何設計超導量子位元電路

設計超導量子位元電路、透過全波電磁模擬分析共振模態，並匯出可供製造使用的 GDS 佈局。

了解更多

如何建模與模擬通量量化約瑟夫森結電路

利用通量感知元件，並透過直流、S參數、瞬態及諧波平衡模擬，在 ADS 中建模通量量化約瑟夫森結電路。

了解更多

聯絡我們標誌

聯絡我們的一位專家

需要協助尋找適合您的解決方案嗎？

與我們聯絡