Come effettuare uno screening strutturale completo dei circuiti integrati in linea

Collaudatore elettrico strutturale
+ Tester per strutture elettriche

Screening strutturale in linea

Lo screening strutturale IC in linea valuta ogni pacchetto semiconduttore durante la produzione, misurando le caratteristiche elettriche che rivelano anomalie strutturali prima dei test funzionali finali. Questo approccio integra le apparecchiature di collaudo automatizzate convenzionali e l’ispezione automatizzata a raggi X, identificando difetti che non possono essere rilevati tramite test di continuità o ispezioni a campionamento limitato.

Il processo di misurazione si avvale di tecniche di rilevamento capacitivo per analizzare l'accoppiamento tra strutture conduttive interne, quali i lead frame e i collegamenti a filo. L'analisi statistica dei profili confronta ciascun dispositivo con i valori di riferimento di produzione, consentendo di rilevare automaticamente eventuali anomalie strutturali e garantendo al contempo un'ispezione continua lungo le linee di produzione ad alto volume.

Soluzione di screening strutturale in linea

Per ottenere uno screening strutturale completo dei circuiti integrati in linea è necessario integrare un sistema di ispezione elettrica ad alta velocità direttamente nel flusso di produzione dei semiconduttori senza rallentare la produttività. La soluzione combina il tester strutturale elettrico Keysight con la tecnologia di sonda potenziata per test capacitivi senza vettori, al fine di ispezionare le strutture interne dei pacchetti immediatamente dopo i test effettuati dalle apparecchiature di collaudo automatizzate. Il sistema rileva difetti strutturali quali cedimenti dei fili, quasi-cortocircuiti, posizionamento errato dei die e costruzioni anomale dei pacchetti che potrebbero non essere identificati mediante la sola ispezione elettrica convenzionale o a raggi X. L’analisi integrata della media dei componenti monitora continuamente le variazioni di produzione e aggiorna dinamicamente i limiti di screening per ridurre i falsi scarti. Supportando fino a 20 postazioni di test in parallelo e una produttività che raggiunge le 72.000 unità all’ora, la soluzione consente un’ispezione in linea completa per la produzione di semiconduttori automobilistici ad alto volume, riducendo al contempo i difetti sfuggiti al controllo e migliorando la qualità del prodotto.

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Schema a blocchi della soluzione di screening strutturale dei circuiti integrati in linea

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