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使用以下篩選條件,尋找適用於您的特定儀器的軟體。
使用 PathWave 製造測試執行軟體(部署版和開發者版)部署測試計畫,並靈活管理您的測試成本。
使用 PathWave 製造測試執行軟體(部署版和開發者版)部署測試計畫,並靈活管理您的測試成本。
PathWave 製造測試執行軟體,採用 TAP 快速通道來建立自動化測試計畫,以縮短開發時間同時提升使用者體驗。
PathWave 製造測試執行軟體,採用 TAP 快速通道來建立自動化測試計畫,以縮短開發時間同時提升使用者體驗。
PathWave 製造測試執行軟體(PTEM)外掛程式,可提升使用 PathWave 測試自動化平台(TAP)開發自動化測試程式的使用者體驗。 有了功能強大的 PathWave 測試執行軟體,可減輕使用者自行維護或開發測試平台的壓力,特別是在產品高度混搭的製造環境中,測試平台的維護、升級和控管變得非常具有挑戰性。 寶貴資源不應優先投入開發測試執行平台,反而應需投入最佳化和擴大測試涵蓋範圍才是重點。
優先考慮各項優點
此工具專為測試開發目的而設計,然後才發送至生產環境以供執行時使用。它提供了全面的測試開發功能,包括配置、資料準備、測試生成、夾具生成和除錯。
此工具專為測試開發目的而設計,然後才發送至生產環境以供執行時使用。它提供了全面的測試開發功能,包括配置、資料準備、測試生成、夾具生成和除錯。
Boundary Scan Analyzer 的執行時間授權提供一套全面的測試解決方案,完全符合最新的 IEEE 1149.1-2013 標準。此授權專為生產執行時間測試而設計。
Boundary Scan Analyzer 的執行時間授權提供一套全面的測試解決方案,完全符合最新的 IEEE 1149.1-2013 標準。此授權專為生產執行時間測試而設計。
M6802B x1149 IEEE 1687 開發授權,用於測試半導體裝置中的嵌入式儀器。
M6802B x1149 IEEE 1687 開發授權,用於測試半導體裝置中的嵌入式儀器。
M6803B x1149 IEEE 1687 開發授權,用於測試半導體裝置中的嵌入式儀器。
M6803B x1149 IEEE 1687 開發授權,用於測試半導體裝置中的嵌入式儀器。
結果分析儀是一種工具,可分析原始測試結果,以精確找出導致測試失敗的裝置接腳位置。
結果分析儀是一種工具,可分析原始測試結果,以精確找出導致測試失敗的裝置接腳位置。
適用於執行時期和測試開發的軟體版本 2.0 升級方案,是一項可讓使用者取得其 Keysight x1149 邊界掃描分析儀最新軟體版本的服務。
適用於執行時期和測試開發的軟體版本 2.0 升級方案,是一項可讓使用者取得其 Keysight x1149 邊界掃描分析儀最新軟體版本的服務。
啟用外部原始檔的匯入,以程式設計 CPLD/FPGA 裝置。
啟用外部原始檔的匯入,以程式設計 CPLD/FPGA 裝置。
透過 PM2288A PathWave 製造分析軟體(工業 4.0 電子產品資料分析解決方案)推動製造流程改善。
透過 PM2288A PathWave 製造分析軟體(工業 4.0 電子產品資料分析解決方案)推動製造流程改善。
PathWave 製造分析平台結合量測專業知識、資料科學和大數據工程技術,可針對未來智慧工廠的各個層面,為製造商提供深入的洞察力,以便執行具體措施。 透過大數據進階分析,您可提高良率、減少重新進行測試與處理所耗費的時間,並避免因劣質產品而導致成本升高。 透過獨特的創新分析功能,您可加速回收投資並獲得豐碩的業務成果。
說明
診斷
可預測性
規範性
TestExec SL 靈活的測試執行軟體,專為橫跨多個產業的電子製造功能測試應用而設計。
TestExec SL 靈活的測試執行軟體,專為橫跨多個產業的電子製造功能測試應用而設計。
Keysight TestExec SL 軟體是可自訂、靈活的測試執行軟體,專為橫跨多個產業的電子製造功能測試應用而設計。
這套現成的測試執行軟體具有可以完全客製化的操作介面、支援多種儀器整合的開放式架構、靈活的測試序列、簡單易用的除錯工具,以及用於大多數製造測試環境中的線路整合工具,可為測試開發人員提供莫大的幫助。
TestExec SL 可提高生產效率,尤其是為測試自動化提供了獨特的優勢,而且簡單易用。利用最新發佈的 TestExec SL 7.1,您可使用多執行緒功能來提高測試速率並縮短閒置時間。
TestExec SL 7.1
TestExec SL 安裝檔中內含使用者手冊與輔助說明檔。
Drive Thru 功能讓測試開發軟體,能夠在電阻器和元件之間未分配測試點的情況下,對積體電路或連接器進行測試。
Drive Thru 功能讓測試開發軟體,能夠在電阻器和元件之間未分配測試點的情況下,對積體電路或連接器進行測試。
許多印刷電路板設計會藉由添加上拉和下拉電阻器,來對積體電路進行偏壓。 電阻器和元件之間的節點通常沒有測試點。 Drive Thru 功能讓測試開發軟體,能夠在電阻器和元件之間未分配測試點的情況下,對積體電路或連接器進行測試。
啟用此功能後,開發軟體會自動選擇電阻器兩端的測試點,以便對積體電路執行 VTEP 或 nanoVTEP 測試。
除了電阻器,此功能還支援串聯元件,例如電感器、跨接線、切換器、保險絲和小型電容器。