Catalogo completo dei software

Grazie alla combinazione di competenze nel campo dei test e delle misurazioni con la scienza dei dati e l'ingegneria dei big data, la piattaforma PathWave Manufacturing Analytics fornisce informazioni utili a tutti i livelli della vostra organizzazione nella fabbrica intelligente del futuro. Migliorate la resa, riducete la necessità di ripetere i test e le operazioni di gestione e abbassate i costi legati alla scarsa qualità grazie ad analisi avanzate dei big data che funzionano davvero. Accelerate il ritorno sull'investimento e i risultati aziendali con analisi uniche e innovative.

Descrittivo

• Visualizza le prestazioni del tuo stabilimento in termini di efficienza operativa complessiva (OEE), resa, resa al primo passaggio, ritest, volume, ecc. grazie a approfondimenti e filtri dettagliati
• Salva l'area di lavoro e visualizza la tua dashboard personalizzata in qualsiasi momento, in tempo reale e da qualsiasi luogo

Diagnostica

• Utilizza strumenti diagnostici e visualizzazioni "no-code" appositamente selezionati per operatori, tecnici e ingegneri di ogni livello
• Individua le cause alla radice con pochi clic, confronta diversi test, sistemi, dispositivi di fissaggio, componenti, sonde e altro ancora

 Predittivo

• Prevedere potenziali problemi di qualità nella produzione in tempo reale grazie a modelli ottimizzati di rilevamento delle anomalie basati sull'apprendimento automatico
• Ricevi solo gli avvisi con un «punteggio di gravità elevato». Intervieni per prevenire situazioni catastrofiche e mitigare i rischi legati alla scarsa qualità, senza incorrere nella «fatica da avvisi»

Prescrittivo

• Definire limiti di prova adattivi in tempo reale con test di media dinamica ottimizzata dei pezzi
• Sfruttare i dati e le informazioni analitiche per i sistemi orizzontali e verticali al fine di ottimizzare i processi

Lo strumento M6803B offre una potente funzionalità per testare il funzionamento degli strumenti integrati in un dispositivo a semiconduttori senza la necessità di definire gli strumenti o le loro caratteristiche. Aggiungendo i file ICL e PDL necessari come librerie e assegnandoli ai dispositivi pertinenti, lo strumento è in grado di generare automaticamente test per dispositivi conformi allo standard IEEE 1687.

Lo strumento M6802B offre una potente funzionalità per testare il funzionamento degli strumenti integrati in un dispositivo a semiconduttori senza la necessità di definire gli strumenti o le loro caratteristiche. Aggiungendo i file ICL e PDL necessari come librerie e assegnandoli ai dispositivi pertinenti, lo strumento è in grado di generare automaticamente test per dispositivi conformi allo standard IEEE 1687.

Automatizza i test con TestExec SL

• Architettura intelligente: supporta C/C++, VB, C#, VB.NET, Keysight VEE e altro ancora
• Switch Manager: semplifica l'attività di commutazione della configurazione della topologia
• Test Profiler: valuta e ottimizza il rendimento delle singole prove.
• Moltiplicatore di produttività: aumenta la produttività grazie a test batch per più UUT.
• Libreria riutilizzabile: fornisce un framework per il riutilizzo del codice (gestori, azioni e sequenze di test)
• Multithreading: esegue più istruzioni di test contemporaneamente
• Funzionalità di test asincroni per ottimizzare al meglio i tempi e l'utilizzo dei test

TestExec SL di Keysight Technologies è un sistema di esecuzione dei test personalizzabile e flessibile, sviluppato appositamente per le applicazioni di test funzionali nella produzione elettronica. Questo sistema di esecuzione dei test pronto all'uso offre agli sviluppatori di test un'interfaccia operatore completamente personalizzabile, un'architettura aperta per l'integrazione di più strumenti, sequenze di test flessibili, strumenti di debug facili da usare e disposizioni per l'integrazione in linea nella maggior parte degli ambienti di test di produzione. TestExec SL aumenta la produttività, offre vantaggi unici per l'automazione dei test ed è imbattibile in termini di facilità d'uso.

Il boundary scan è un metodo utilizzato per testare le interconnessioni sui circuiti stampati. La funzionalità Silicon Nails di Keysight mette a disposizione tutti gli strumenti necessari per sviluppare ed eseguire test su dispositivi boundary scan non conformi collegati a dispositivi boundary scan conformi presenti sul circuito stampato.

Durante lo sviluppo del test, lo strumento di sviluppo test Silicon Nails fa riferimento al test digitale definito per il dispositivo boundary scan non conforme. Successivamente, genera un test boundary scan che comanda ai dispositivi boundary scan presenti nella catena di eseguire i vettori di test sul dispositivo boundary scan non conforme. In questo modo, il tester comanda il dispositivo boundary scan non conforme e lo testa attraverso la catena boundary scan.

Lo strumento di sviluppo dei test Silicon Nails consente inoltre agli utenti di definire i vettori che desiderano eseguire sul dispositivo boundary scan non conforme. Lo strumento genererà il test boundary scan da inviare in uscita o in ingresso al pin di interconnessione pertinente, garantendo così l'uniformità del test.

Il tester in-circuit i3070 è dotato di un software diagnostico completo che consente agli utenti di risolvere facilmente eventuali problemi del tester. Il software diagnostico prevede due livelli: base e avanzato.

Il livello "Diagnostica di base" è lo strumento principale di risoluzione dei problemi utilizzato da tutti gli utenti per controllare la configurazione hardware, verificare e isolare i guasti hardware. Alcuni test diagnostici richiedono l'installazione di un dispositivo di verifica dei pin sul sistema.

Il livello Advanced è riservato esclusivamente agli utenti esperti. Quando si verifica un errore durante la procedura di diagnostica, vengono eseguiti ulteriori passaggi per verificare il funzionamento dei relè e individuare quello difettoso. Ciò fornisce all'utente ulteriori dettagli sul guasto.

I progettisti ricorrono ai dispositivi logici programmabili (PLD) quando devono impostare o modificare la funzione del dispositivo installato sul circuito stampato. Questi dispositivi vengono solitamente utilizzati nella fase di sviluppo iniziale (NPI) del circuito stampato. Per impostare la funzione del PLD, è necessario programmarlo.

La funzione PLD ISP consente all'ingegnere responsabile dello sviluppo dei test di specificare un file di bitstream di configurazione in un file di test digitale VCL, proprio come quando si programma un dispositivo di memoria Flash. La funzione PLD ISP supporta diversi formati di dati di configurazione PLD, tra cui:

• Formato vettoriale seriale (SVF)
• Linguaggio standard di test e programmazione (STAPL)
• Marmellata
• File oggetto Jam Byte Code (JBC)

Flash ISP è un prodotto software opzionale che migliora notevolmente la velocità di programmazione delle memorie flash. Ciò è possibile grazie all'utilizzo dell'algoritmo Flash ISP e alle funzionalità hardware della scheda Control XTP o di modelli successivi.