すべてのソフトウェアカタログ

M6800Bテスト開発は、ランタイム使用のために生産に送る前に、テスト開発目的で設計されたツールです。これには、以下を含むテスト開発機能の包括的な範囲が提供されます。

• 構成
• データ準備
• テスト生成
• フィクスチャ生成
• デバッグ

M6801B バウンダリスキャンアナライザ用ランタイムライセンスは、最新のIEEE 1149.1-2013規格に完全に準拠した包括的なテストソリューションを提供します。このツールは、生産ランタイムテスト専用に設計されており、製品が出荷される前に正確で信頼性の高いテストを実行できます。

M6802Bツールは、半導体デバイス内の組み込み測定器の機能を、測定器やその機能を定義することなくテストする強力な機能を提供します。必要なICLファイルとPDLファイルをライブラリとして追加し、関連するデバイスに割り当てることで、IEEE 1687標準に準拠したデバイスのテストを自動的に生成できます。

M6803Bツールは、半導体デバイス内の組み込み測定器の機能を、測定器やその機能を定義することなくテストする強力な機能を提供します。必要なICLファイルとPDLファイルをライブラリとして追加し、関連するデバイスに割り当てることで、IEEE 1687標準に準拠したデバイスのテストを自動的に生成できます。

M6804B Result Analyzerは、デバイスの生のテスト結果を分析し、テスト失敗の原因となった特定のデバイスピンの位置を特定するために設計された強力なソフトウェアツールです。その高度な分析機能により、このソフトウェアはエンジニアが問題を迅速かつ効果的に診断および解決するのを支援し、製品品質の向上と製造コストの削減につながります。

ランタイムおよびテスト開発用ソフトウェアバージョン2.0アップグレードプランは、ユーザーがキーサイト x1149 バウンダリスキャンアナライザの最新ソフトウェアリビジョンを入手できるサービスです。

M6808B SVFツールは、外部ソースファイルをインポートすることで、CPLD/FPGAデバイスを簡単にプログラミングできます。このツールは、STAPL、JAM、JBC、SVFを含む複数のファイル形式をサポートしており、様々なプログラミングニーズに対応する多用途なソリューションとなっています。

PathWave Manufacturing Analyticsプラットフォームは、電子計測の専門知識に、データサイエンスとビッグデータエンジニアリングを融合することで、未来のスマート工場における製造プロセスのあらゆるレベルに対して実用的な考察を提供します。 歩留まりを向上し、再テストおよびハンドリングの低減や品質低下に伴うコストの削減を本当に実現する、ビッグデータによる高度な分析です。 さらに独自の革新的な分析により、投資収益率とビジネス成果の向上を加速します。

説明

• 広範なドリルダウンとフィルターにより、全体的な運用効率(OEE)、歩留まり、初回合格率、再テスト、数量などの観点から工場の業績を表示します。
• ワークスペースを保存し、自分専用のダッシュボードをオンデマンドでどこからでもリアルタイムに見ることができます。

診断

• すべてのレベルのオペレーター、技術者、エンジニアのために特別に監修された診断ツールと可視化をコードレスで使用できます。
• 複数のテスト、システム、治具、部品、プローブなどを比較し、数回クリックするだけで問題の根本原因を特定します。

予測

• 最適化された機械学習による異常検出モデルにより、リアルタイムで製造時に発生しうる品質問題を予測します。
• 「重要度スコアが高い」アラートのみを受け取ります。 アラートで疲弊することなく、大惨事を防ぎ、品質不良のリスクを軽減するための行動を起こしましょう。

規範

• 最適化されたダイナミック・パート・アベレーシング・テストで、リアルタイムに適応するテストリミットを規定します。
• プロセスを最適化するために水平および垂直システム用に変換されたデータと知見を活用します。

• インテリジェント・アーキテクチャ：C/C++、VB、C#、VB.NET、Keysight VEEなどをサポートしています。
• スイッチ・マネージャ：スイッチの切り替えを効率化します。
• テスト・プロファイラ：個々のテストのスループットを評価／最適化します。
• スループット・マルチプライヤ：複数のUUTのバッチ・テストにより、スループットを向上させます。
• 再利用可能ライブラリ：コード・リユース（ハンドラ、動作、テスト・シーケンス）用のフレームワークを提供します。
• マルチスレッド – 複数のテスト命令を同時に実行
• オペレーティングシステムTest Exec SL 8.1: Windows® 10。Windows® 7 ProfessionalまたはHome Edition（Service Pack 1以降）。
• オペレーティング・システムTest Exec SL 7.1： Windows® 7 32ビットまたは64ビット、ProfessionalまたはHome Edition（Service Pack 1以降）Windows® XP ProfessionalまたはHome Edition（Service Pack 2以降）Windows® 2000 Professional（Service Pack 4以降）

KeysightのTestExec SLは、さまざまな電子機器製造のファンクション・テスト用テスト・エグゼクティブです。

このテスト・エグゼクティブでは、オペレータ・インターフェースのカスタマイズ機能、オープン・アーキテクチャによる複数の測定器の統合、柔軟なテスト・シーケンス機能、容易なデバッグ・ツール、製造テスト環境でのライン統合機能があります。

TestExec SLは、さまざまなテスト自動化機能と使いやすさにより、生産性を向上させます。新しくリリースされたTestExec SL7.1では、マルチスレッド機能を活用することによって、実行スループットの向上とアイドル時間の短縮を実現できます。

MicrosoftはMicrosoft Corporationの登録商標です。

Cover-Extendテクノロジー(CET)は、バウンダリスキャン出力セルを使用してコネクタとソケット信号ピンをテストすることにより、VTEPまたはnanoVTEPの測定能力をパワーテストに拡張します。 この機能は、VTEPまたはnanoVTEPとCETシグナル・コンディショナ・カードのハードウェアを使用することで、非バウンダリスキャンデバイスのバウンダリスキャン限定アクセスソリューションを拡張します。

Cover-Extend測定は、バウンダリスキャン出力セルを使用して、コネクタ／ソケットおよび非バウンダリスキャンデバイスに信号を駆動することで実現されます。 VTEPセンサープレートでピックアップされた信号は、Cover-Extendシグナル・コンディショナ・カードで増幅およびフィルタリングされ、信号品質を向上させます。

CET機能により、被試験デバイス上でテストベクトルを自動生成します。