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K8215B 高度なスループット逓倍器機能、GTE 10.00p
高度なスループット逓倍器機能により、4モジュールテスターで1000～2000ノード（1296～2592ノード間）の基板を2枚まで同時にテストすることができ、テスト時間を半減させることができます。
高度なスループット逓倍器機能により、4モジュールテスターで1000～2000ノード（1296～2592ノード間）の基板を2枚まで同時にテストすることができ、テスト時間を半減させることができます。
ハイライト
i3070インサーキット・テスト・システムのアーキテクチャーは、4つのモジュールに分かれています。 各モジュールは並行してテストを実行できるため、一度に4枚のプリント基板をテストすることが可能です。
それぞれ1000ノード以上ある同一基板をテストする場合、高度なスループット逓倍器機能を使って、2つのモジュールを組み合わせることができます。 これにより、4モジュールテスターで1000～2000ノード（1296～2592ノード間）の基板を2枚まで同時にテストすることができ、テスト時間を半減させることができます。
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