高度なスループット逓倍器機能により、4モジュールテスターで1000~2000ノード(1296~2592ノード間)の基板を2枚まで同時にテストすることができ、テスト時間を半減させることができます。

ハイライト

i3070インサーキット・テスト・システムのアーキテクチャーは、4つのモジュールに分かれています。 各モジュールは並行してテストを実行できるため、一度に4枚のプリント基板をテストすることが可能です。

それぞれ1000ノード以上ある同一基板をテストする場合、高度なスループット逓倍器機能を使って、2つのモジュールを組み合わせることができます。 これにより、4モジュールテスターで1000~2000ノード(1296~2592ノード間)の基板を2枚まで同時にテストすることができ、テスト時間を半減させることができます。

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