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利用進階量測速率倍增（Advanced Throughput Multiplier）功能，您可在一台 4 模組測試儀上，同時測試最多 2 個 1,000 至 2,000 節點（介於 1,296 和 2,592 節點之間）的電路板，將測試時間縮短一半。
產品特性
i3070 In-Circuit 電路測試系統架構可拆分為 4 個模組， 每個模組可與其他模組並聯執行測試，因此最多可同時測試 4 個印刷電路板。
如需測試具有超過 1,000 個節點的同質（相同）電路板，您可使用進階量測速率倍增（Advanced Throughput Multiplier）功能，將 2 個模組結合在一起。 如此一來，您可在一台 4 模組測試儀上，同時測試最多 2 個 1,000 至 2,000 節點（介於 1,296 和 2,592 節點之間）的電路板，將測試時間縮短一半。
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