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M6800B Test Development is a tool that is designed for test development purposes before sending to production for runtime usage. It provides a comprehensive scope of test development features, including:

• Configuration
• Data preparation
• Test generation
• Fixture generation
• Debug

M6801B Run time license for Boundary Scan Analyzer provides a comprehensive testing solution that fully complies with the latest IEEE 1149.1-2013 standard. This tool is designed specifically for production runtime testing, allowing you to perform accurate and reliable testing of your products before they are shipped to customers.

The M6802B tool provides a powerful capability to test the functionality of embedded instruments within a semiconductor device without the need to define the instruments or their features. By adding the necessary ICL and PDL files as libraries and assigning them to the relevant devices, the tool can automatically generate tests for devices compliant with the IEEE 1687 standard.

The M6803B tool provides a powerful capability to test the functionality of embedded instruments within a semiconductor device without the need to define the instruments or their features. By adding the necessary ICL and PDL files as libraries and assigning them to the relevant devices, the tool can automatically generate tests for devices compliant with the IEEE 1687 standard.

M6804B Result Analyzer is a powerful software tool designed to analyze the raw test results of devices and identify the specific device pin location responsible for a test failure. With its advanced analytical capabilities, this software can assist engineers in diagnosing and resolving issues quickly and effectively, leading to improved product quality and reduced manufacturing costs.

Software Version 2.0 Upgrade Plan for runtime and test development is a service that allows the user to get the latest software revisions for their Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer.

The M6808B SVF tool allows you to program CPLD/FPGA devices easily by importing external source files. The tool supports multiple file formats, including STAPL, JAM, JBC, and SVF, making it a versatile solution for various programming needs.

PathWave Manufacturing Analyticsプラットフォームは、電子計測の専門知識に、データサイエンスとビッグデータエンジニアリングを融合することで、未来のスマート工場における製造過程のあらゆるレベルに対して実用的な考察を提供します。 歩留まりを向上し、再テストおよびハンドリングの低減や品質低下に伴うコストの削減を本当に実現する、ビッグデータによる高度な解析です。 さらに独自の革新的な分析により、投資収益率とビジネス成果の向上を加速します。

説明

• 広範なドリルダウンとフィルターにより、全体的な運用効率(OEE)、歩留まり、初回合格率、再テスト、数量などの観点から工場の業績を表示します。
• ワークスペースを保存し、自分専用のダッシュボードをオンデマンドでどこからでもリアルタイムに見ることができます。

診断

• すべてのレベルのオペレーター、技術者、エンジニアのために特別に監修された診断ツールと可視化をコードレスで使用できます。
• 複数のテスト、システム、治具、部品、プローブなどを比較し、数回クリックするだけで問題の根本原因を特定します。

予測

• 最適化された機械学習による異常検出モデルにより、リアルタイムで製造時に発生しうる品質問題を予測します。
• 「重要度スコアが高い」アラートのみを受け取ります。 アラートで疲弊することなく、大惨事を防ぎ、品質不良のリスクを軽減するための行動を起こしましょう。

規範

• 最適化されたダイナミック・パート・アベレージング・テストで、リアルタイムに適応するテストリミットを規定します。
• プロセスを最適化するために水平および垂直システム用に変換されたデータと知見を活用します。

• インテリジェント・アーキテクチャ：C/C++、VB、C#、VB.NET、Keysight VEEなどをサポートしています。
• スイッチ・マネージャ：スイッチの切り替えを効率化します。
• テスト・プロファイラ：個々のテストのスループットを評価／最適化します。
• スループット・マルチプライヤ：複数のUUTのバッチ・テストにより、スループットを向上させます。
• 再利用可能ライブラリ：コード・リユース（ハンドラ、動作、テスト・シーケンス）用のフレームワークを提供します。
• マルチスレッド – 複数のテスト命令を同時に実行
• オペレーティングシステムTest Exec SL 8.1: Windows® 10。Windows® 7 ProfessionalまたはHome Edition（Service Pack 1以降）。
• オペレーティング・システムTest Exec SL 7.1： Windows® 7 32ビットまたは64ビット、ProfessionalまたはHome Edition（Service Pack 1以降）Windows® XP ProfessionalまたはHome Edition（Service Pack 2以降）Windows® 2000 Professional（Service Pack 4以降）

KeysightのTestExec SLは、さまざまな電子機器製造のファンクション・テスト用テスト・エグゼクティブです。

このテスト・エグゼクティブでは、オペレータ・インタフェースのカスタマイズ機能、オープン・アーキテクチャによる複数の測定器の統合、柔軟なテスト・シーケンス機能、容易なデバッグ・ツール、製造テスト環境でのライン統合機能があります。

TestExec SLは、さまざまなテスト自動化機能と使いやすさにより、生産性を向上させます。新しくリリースされたTestExec SL7.1では、マルチスレッド機能を活用することによって、実行スループットの向上とアイドル時間の短縮を実現できます。

MicrosoftはMicrosoft Corporationの登録商標です。

Cover-Extendテクノロジー(CET)は、バウンダリスキャン出力セルを使用してコネクタとソケット信号ピンをテストすることにより、VTEPまたはnanoVTEPの測定能力をパワーテストに拡張します。 この機能は、VTEPまたはnanoVTEPとCETシグナル・コンディショナ・カードのハードウェアを使用することで、非バウンダリ・スキャン・デバイスのバウンダリスキャン限定アクセスソリューションを拡張します。

Cover-Extend測定は、バウンダリスキャン出力セルを使用して、コネクタ／ソケットおよび非バウンダリ・スキャン・デバイスに信号を駆動することで実現されます。 VTEPセンサプレートでピックアップされた信号は、Cover-Extendシグナル・コンディショナ・カードで増幅およびフィルタリングされ、信号品質を向上させます。

CET機能により、被試験デバイス上でテストベクトルを自動生成します。