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PathWave Manufacturing Analytics
Use o PM2288A PathWave Manufacturing Analytics para impulsionar melhorias na fabricação com uma solução de análise de dados eletrônicos da Indústria 4.0.
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Software TestExec SL
O TestExec SL é um software executivo de testes altamente flexível para aplicações de testes funcionais na fabricação de produtos eletrônicos em diversos setores.
O TestExec SL é um software executivo de testes altamente flexível para aplicações de testes funcionais na fabricação de produtos eletrônicos em diversos setores.
PathWave Test Executive para versão de desenvolvedor de manufatura
O KS8328A PathWave Test Executive for Manufacturing opera no TAP, um plano de teste automatizado de criação rápida para reduzir o tempo de desenvolvimento e melhorar a experiência do usuário.
O KS8328A PathWave Test Executive for Manufacturing opera no TAP, um plano de teste automatizado de criação rápida para reduzir o tempo de desenvolvimento e melhorar a experiência do usuário.
Implemente planos de teste criados com o PathWave Test Executive para Manufatura. As licenças de implantação e desenvolvedor oferecem flexibilidade no gerenciamento dos custos de teste.
Implemente planos de teste criados com o PathWave Test Executive para Manufatura. As licenças de implantação e desenvolvedor oferecem flexibilidade no gerenciamento dos custos de teste.
Software TestExec SL
O TestExec SL é um software executivo de testes altamente flexível para aplicações de testes funcionais na fabricação de produtos eletrônicos em diversos setores.
O TestExec SL é um software executivo de testes altamente flexível para aplicações de testes funcionais na fabricação de produtos eletrônicos em diversos setores.
1149.1 Recurso de varredura de limites, GTE 10.00p
A varredura de limite é um método para testar interconexões em placas de circuito impresso. O recurso Interconnect Plus Boundary Scan da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste fundamental na placa em teste.
A varredura de limite é um método para testar interconexões em placas de circuito impresso. O recurso Interconnect Plus Boundary Scan da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste fundamental na placa em teste.
1149.1 Recurso de varredura de limites, GTE 10.00p
A varredura de limite é um método para testar interconexões em placas de circuito impresso. O recurso Interconnect Plus Boundary Scan da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste fundamental na placa em teste.
A varredura de limite é um método para testar interconexões em placas de circuito impresso. O recurso Interconnect Plus Boundary Scan da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste fundamental na placa em teste.
1149.6 Recurso de varredura de limites, GTE 10,00p
O recurso Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste na placa em teste. Em comparação com as normas 1149.1, as normas 1149.6 definem métodos de teste para dispositivos de varredura de limite projetados com sinais acoplados CA ou redes diferenciais necessárias para operações de alta velocidade do dispositivo.
O recurso Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste na placa em teste. Em comparação com as normas 1149.1, as normas 1149.6 definem métodos de teste para dispositivos de varredura de limite projetados com sinais acoplados CA ou redes diferenciais necessárias para operações de alta velocidade do dispositivo.
1149.6 Recurso de varredura de limites, GTE 10,00p
O recurso Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste na placa em teste. Em comparação com as normas 1149.1, as normas 1149.6 definem métodos de teste para dispositivos de varredura de limite projetados com sinais acoplados CA ou redes diferenciais necessárias para operações de alta velocidade do dispositivo.
O recurso Interconnect Plus Boundary Scan 1149.6 da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar esse método de teste na placa em teste. Em comparação com as normas 1149.1, as normas 1149.6 definem métodos de teste para dispositivos de varredura de limite projetados com sinais acoplados CA ou redes diferenciais necessárias para operações de alta velocidade do dispositivo.
Recurso Silicon Nails, GTE 10,00 p
O recurso Silicon Nails da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar testes em dispositivos de varredura de limite não compatíveis que estão conectados a dispositivos compatíveis com varredura de limite na placa de circuito impresso.
O recurso Silicon Nails da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar testes em dispositivos de varredura de limite não compatíveis que estão conectados a dispositivos compatíveis com varredura de limite na placa de circuito impresso.
Recurso Silicon Nails, GTE 10,00 p
O recurso Silicon Nails da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar testes em dispositivos de varredura de limite não compatíveis que estão conectados a dispositivos compatíveis com varredura de limite na placa de circuito impresso.
O recurso Silicon Nails da Keysight oferece todas as ferramentas necessárias para desenvolver e executar testes em dispositivos de varredura de limite não compatíveis que estão conectados a dispositivos compatíveis com varredura de limite na placa de circuito impresso.
Recurso avançado de multiplicador de rendimento, GTE 10,00p
O recurso Advanced Throughput Multiplier permite testar simultaneamente até duas placas de 1.000 a 2.000 nós (entre 1.296 e 2.592 nós) em um testador de 4 módulos, reduzindo assim o tempo de teste pela metade.
O recurso Advanced Throughput Multiplier permite testar simultaneamente até duas placas de 1.000 a 2.000 nós (entre 1.296 e 2.592 nós) em um testador de 4 módulos, reduzindo assim o tempo de teste pela metade.
