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M6800B 테스트 개발은 런타임 사용을 위해 생산에 투입하기 전에 테스트 개발 목적으로 설계된 도구입니다. 다음과 같은 포괄적인 테스트 개발 기능을 제공합니다:

• 구성
• 데이터 준비
• 테스트 생성
• 픽스처 생성
• 디버그

M6801B 바운더리 스캔 분석기 런타임 라이선스는 최신 IEEE 1149.1-2013 표준을 완벽하게 준수하는 포괄적인 테스트 솔루션을 제공합니다. 이 도구는 생산 런타임 테스트를 위해 특별히 설계되어 제품을 고객에게 배송하기 전에 정확하고 신뢰할 수 있는 테스트를 수행할 수 있도록 합니다.

M6802B 툴은 임베디드 계측기의 정의나 기능에 대한 필요 없이 반도체 장치 내 임베디드 계측기의 기능을 테스트할 수 있는 강력한 기능을 제공합니다. 필요한 ICL 및 PDL 파일을 라이브러리로 추가하고 관련 장치에 할당함으로써, 이 툴은 IEEE 1687 표준을 준수하는 장치에 대한 테스트를 자동으로 생성할 수 있습니다.

M6803B 툴은 임베디드 계측기의 정의나 기능에 대한 필요 없이 반도체 장치 내 임베디드 계측기의 기능을 테스트할 수 있는 강력한 기능을 제공합니다. 필요한 ICL 및 PDL 파일을 라이브러리로 추가하고 관련 장치에 할당함으로써, 이 툴은 IEEE 1687 표준을 준수하는 장치에 대한 테스트를 자동으로 생성할 수 있습니다.

M6804B 결과 분석기는 디바이스의 원시 테스트 결과를 분석하고 테스트 실패의 원인이 되는 특정 디바이스 핀 위치를 식별하도록 설계된 강력한 소프트웨어 도구입니다. 고급 분석 기능을 통해 이 소프트웨어는 엔지니어가 문제를 신속하고 효과적으로 진단하고 해결하여 제품 품질을 향상하고 제조 비용을 절감하는 데 도움을 줄 수 있습니다.

런타임 및 테스트 개발용 소프트웨어 버전 2.0 업그레이드 플랜은 사용자가 키사이트 x1149 바운더리 스캔 분석기의 최신 소프트웨어 개정판을 받을 수 있도록 하는 서비스입니다.

M6808B SVF 툴을 사용하면 외부 소스 파일을 가져와 CPLD/FPGA 장치를 쉽게 프로그래밍할 수 있습니다. 이 툴은 STAPL, JAM, JBC 및 SVF를 포함한 여러 파일 형식을 지원하므로 다양한 프로그래밍 요구 사항에 맞는 다목적 솔루션입니다.

테스트 및 측정 전문 기술과 데이터 과학 및 빅 데이터 엔지니어링을 결합한 PathWave Manufacturing Analytics 플랫폼은 미래의 스마트 공장에서 조직의 모든 수준에 유용한 통찰력을 제공합니다. 실제로 작동하는 빅 데이터 고급 분석으로 수율을 높이고 재테스트 및 처리를 줄이며 불량품으로 인한 비용을 낮춥니다. 고유하고 혁신적인 분석을 통해 투자 수익률(ROI) 및 비즈니스 결과를 가속화하십시오.

기술형

• 광범위한 드릴다운 및 필터를 사용하여 OEE(Overall Operating Efficiency), 수율, 최초 통과 수율, 재테스트, 볼륨 등의 측면에서 공장 성능을 확인하십시오.
• Save workspace and view your own customized dashboard in real-time, anywhere, when needed.

진단형

• 모든 수준의 작업자, 기술자 및 엔지니어를 위해 특별히 선별된 코드 없는 진단 도구 및 시각화를 사용하십시오.
• Solve root cause problems and compare across multiple tests, systems, fixtures, components, and probes with just a few clicks.

 예측형

• 최적화된 기계 학습 이상 감지 모델을 사용하여 실시간 제조에서 잠재적인 품질 문제를 예측합니다.
• "심각도 높음" 경고만 받습니다. 재난을 예방하고 경고 없이 품질 저하의 위험을 완화하기 위한 조치를 취하십시오!

규정형

• 최적화된 동적 부품 평균 테스트를 통해 실시간 적응형 테스트 한계를 규정합니다.
• 수평 및 수직 시스템에 대한 변환된 데이터와 통찰력을 활용하여 프로세스를 최적화합니다.

CET(Cover-Extend Technology)는 바운더리 스캔 출력 셀을 사용하여 커넥터와 소켓 신호 핀을 테스트하는 방식으로 전력 공급 테스트에 대한 VTEP 또는 nanoVTEP의 역량을 확대합니다. 이 기능은 VTEP 또는 nanoVTEP 및 CET 신호 컨디셔너 카드 하드웨어를 사용하여 비바운더리 스캔 디바이스에서 바운더리 스캔 액세스 제한 솔루션을 확대합니다.

Cover-Extend 측정은 비바운더리 스캔 출력 셀을 사용하여 커넥터/소켓과 비바운더리 스캔 디바이스로 신호를 전달하는 방식으로 수행됩니다. VTEP 센서 플레이트가 수신한 신호는 신호 품질 개선을 위한 Cover-Extend 신호 컨디셔너 카드에 의해 증폭 및 여과됩니다.

CET 기능은 테스트 대상 디바이스에서 자동으로 테스트 벡터를 생성합니다.

프로그래밍 가능 로직 장치(PLD)는 설계자들이 회로 보드에 설치된 디바이스의 기능을 설정 또는 변경해야 할 때 사용합니다. 일반적으로 이러한 디바이스는 회로 보드의 NPI 단계에서 사용합니다. PLD의 기능을 설정하려면 프로그래밍을 수행해야 합니다.

PLD ISP 기능을 활용하면 테스트 개발자 엔지니어가 플래시 메모리 디바이스를 프로그래밍하는 것처럼 VCL 디지털 테스트 파일 형식의 구성 비트스트림 파일을 지정할 수 있습니다. PLD ISP 기능은 다음을 포함해 여러 PLD 구성 데이터 형식을 지원합니다.

• Serial Vector Format (SVF)
• 표준 테스트 및 프로그래밍 언어(STAPL)
• 잠
• 잠 바이트 코드(JBC) 개체 파일