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M6800B Test Development is a tool that is designed for test development purposes before sending to production for runtime usage. It provides a comprehensive scope of test development features, including:

• Configuration
• Data preparation
• Test generation
• Fixture generation
• Debug

M6801B Run time license for Boundary Scan Analyzer provides a comprehensive testing solution that fully complies with the latest IEEE 1149.1-2013 standard. This tool is designed specifically for production runtime testing, allowing you to perform accurate and reliable testing of your products before they are shipped to customers.

The M6802B tool provides a powerful capability to test the functionality of embedded instruments within a semiconductor device without the need to define the instruments or their features. By adding the necessary ICL and PDL files as libraries and assigning them to the relevant devices, the tool can automatically generate tests for devices compliant with the IEEE 1687 standard.

The M6803B tool provides a powerful capability to test the functionality of embedded instruments within a semiconductor device without the need to define the instruments or their features. By adding the necessary ICL and PDL files as libraries and assigning them to the relevant devices, the tool can automatically generate tests for devices compliant with the IEEE 1687 standard.

M6804B Result Analyzer is a powerful software tool designed to analyze the raw test results of devices and identify the specific device pin location responsible for a test failure. With its advanced analytical capabilities, this software can assist engineers in diagnosing and resolving issues quickly and effectively, leading to improved product quality and reduced manufacturing costs.

Software Version 2.0 Upgrade Plan for runtime and test development is a service that allows the user to get the latest software revisions for their Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer.

The M6808B SVF tool allows you to program CPLD/FPGA devices easily by importing external source files. The tool supports multiple file formats, including STAPL, JAM, JBC, and SVF, making it a versatile solution for various programming needs.

테스트 및 측정 전문 기술과 데이터 과학 및 빅 데이터 엔지니어링을 결합한 PathWave Manufacturing Analytics 플랫폼은 미래의 스마트 공장에서 조직의 모든 수준에 유용한 통찰력을 제공합니다. 실제로 작동하는 빅 데이터 고급 분석으로 수율을 높이고 재테스트 및 처리를 줄이며 저품질로 인한 비용을 낮춥니다. 고유하고 혁신적인 분석을 통해 투자 수익률(ROI) 및 비즈니스 결과를 가속화하십시오.

기술형

• 광범위한 드릴다운 및 필터를 사용하여 OEE(Overall Operating Efficiency), 수율, 최초 통과 수율, 재테스트, 볼륨 등의 측면에서 공장 성능을 확인하십시오.
• 작업 공간을 절약하고 필요 시 어디서나 실시간으로 나만의 맞춤형 대시보드를 볼 수 있습니다.

진단형

• 모든 수준의 작업자, 기술자 및 엔지니어를 위해 특별히 선별된 코드 없는 진단 도구 및 시각화를 사용하십시오.
• 몇 번의 클릭만으로 근본 원인 문제를 해결하고 여러 테스트, 시스템, 픽스처, 부품, 프로브 간에 비교할 수 있습니다.

 예측형

• 최적화된 기계 학습 이상 감지 모델을 사용하여 실시간 제조에서 잠재적인 품질 문제를 예측합니다.
• "심각도 높음" 경고만 받습니다. 재난을 예방하고 경고 피로 없이 품질 저하의 위험을 완화하기 위한 조치를 취하십시오!

규정형

• 최적화된 동적 부품 평균 테스트를 통해 실시간 적응형 테스트 한계를 규정합니다.
• 수평 및 수직 시스템에 대한 변환된 데이터와 통찰력을 활용하여 프로세스를 최적화합니다.

CET(Cover-Extend Technology)는 바운드리 스캔 출력 셀을 사용해서 커넥터와 소켓 신호 핀을 테스트하는 방식으로 전력 공급 테스트에 대한 VTEP 또는 nanoVTEP의 역량을 확대합니다. 이 기능은 VTEP 또는 nanoVTEP 및 CET 신호 컨디셔너 카드 하드웨어를 사용하여 비바운드리 스캔 디바이스에서 바운드리 스캔 액세스 제한 솔루션을 확대합니다.

Cover-Extend 측정은 비바운드리 스캔 출력 셀을 사용하여 커넥터/소켓과 비바운드리 스캔 디바이스로 신호를 전달하는 방식으로 수행됩니다. VTEP 센서 플레이트가 수신한 신호는 신호 품질 개선을 위한 Cover-Extend 신호 컨디셔너 카드에 의해 증폭 및 여과됩니다.

CET 기능은 테스트 대상 디바이스에서 자동으로 테스트 벡터를 생성합니다.

프로그래밍 가능 로직 장치(PLD)는 설계자들이 회로 보드에 설치된 디바이스의 기능을 설정 또는 변경해야 할 때 사용합니다. 일반적으로 이러한 디바이스는 회로 보드의 NPI 단계에서 사용합니다. PLD의 기능을 설정하려면 프로그래밍을 수행해야 합니다.

PLD ISP 기능을 활용하면 테스트 개발자 엔지니어가 플래시 메모리 디바이스를 프로그래밍하는 것처럼 VCL 디지털 테스트 파일 형식의 구성 비트스트림 파일을 지정할 수 있습니다. PLD ISP 기능은 다음을 포함해 여러 PLD 구성 데이터 형식을 지원합니다.

• 시리얼 벡터 형식(SVF)
• 표준 테스트 및 프로그래밍 언어(STAPL)
• 잼
• 잼 바이트 코드(JBC) 개체 파일