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Alliant une expertise en matière de tests et de mesures à la science des données et à l'ingénierie du big data, la plateforme PathWave Manufacturing Analytics fournit des informations exploitables à tous les niveaux de votre organisation dans l'usine intelligente du futur. Améliorez le rendement, réduisez les retests et la manipulation, et diminuez le coût de la mauvaise qualité grâce à des analyses avancées du big data qui fonctionnent vraiment. Accélérez votre retour sur investissement et vos résultats commerciaux grâce à des analyses uniques et innovantes.

Descriptif

• Consultez les performances de votre usine en termes d'efficacité opérationnelle globale (OEE), de rendement, de rendement au premier passage, de retests, de volume, etc. grâce à des filtres et des analyses approfondies.
• Enregistrez l'espace de travail et consultez votre tableau de bord personnalisé à la demande, en temps réel et où que vous soyez.

Diagnostic

• Utilisez des outils de diagnostic et des visualisations spécialement conçus sans code pour tous les niveaux d'opérateurs, de techniciens et d'ingénieurs.
• Identifiez les causes profondes des problèmes en quelques clics, comparez plusieurs tests, systèmes, dispositifs de fixation, pièces, sondes et bien plus encore.

 Prédictif

• Prévoyez les problèmes de qualité potentiels en temps réel dans la fabrication grâce à des modèles optimisés de détection des anomalies par apprentissage automatique.
• Ne recevez que les alertes « à haut niveau de gravité ». Prenez des mesures pour éviter les catastrophes et atténuer les risques liés à la mauvaise qualité sans être submergé d'alertes.

Prescriptif

• Prescrire des limites de test adaptatives en temps réel avec des tests optimisés de calcul de moyenne dynamique des pièces.
• Exploitez les données transformées et les informations pour les systèmes horizontaux et verticaux afin d'optimiser les processus.

L'outil M6803B offre une fonctionnalité puissante permettant de tester le fonctionnement des instruments intégrés dans un dispositif à semi-conducteurs sans avoir à définir les instruments ou leurs caractéristiques. En ajoutant les fichiers ICL et PDL nécessaires sous forme de bibliothèques et en les attribuant aux dispositifs concernés, l'outil peut générer automatiquement des tests pour les dispositifs conformes à la norme IEEE 1687.

L'outil M6802B offre une fonctionnalité puissante permettant de tester le fonctionnement des instruments intégrés dans un dispositif à semi-conducteurs sans avoir à définir les instruments ou leurs caractéristiques. En ajoutant les fichiers ICL et PDL nécessaires sous forme de bibliothèques et en les attribuant aux dispositifs concernés, l'outil peut générer automatiquement des tests pour les dispositifs conformes à la norme IEEE 1687.

Automatisez vos tests avec TestExec SL

• Architecture intelligente - prend en charge C/C++, VB, C#, VB.NET, Keysight VEE, etc.
• Switch Manager - simplifie la tâche de changement de configuration topologique
• Test Profiler - évalue et optimise le débit de performance des tests individuels
• Multiplicateur de débit - augmente le débit grâce à des tests par lots pour plusieurs UUT
• Bibliothèque réutilisable - fournit un cadre pour la réutilisation du code (gestionnaires, actions et séquences de test)
• Multithreading – exécute plusieurs instructions de test simultanément
• Capacités de test asynchrones pour optimiser le temps de test et l'utilisation

TestExec SL de Keysight Technologies est un exécutif de test personnalisable et flexible, spécialement développé pour les applications de test fonctionnel dans le domaine de la fabrication électronique. Cet exécutif de test prêt à l'emploi offre aux développeurs de tests une interface opérateur entièrement personnalisable, une architecture ouverte pour l'intégration de plusieurs instruments, un séquençage de test flexible, des outils de débogage faciles à utiliser et des dispositions pour l'intégration en ligne dans la plupart des environnements de test de fabrication. TestExec SL augmente la productivité, offre des avantages uniques pour l'automatisation des tests et est imbattable en termes de facilité d'utilisation.

Le boundary scan est une méthode permettant de tester les interconnexions sur les cartes de circuits imprimés. La fonctionnalité Silicon Nails de Keysight fournit tous les outils nécessaires pour développer et exécuter des tests sur des dispositifs non conformes au boundary scan qui sont connectés à des dispositifs conformes au boundary scan sur la carte de circuits imprimés.

Lors du développement du test, l'outil de développement de test Silicon Nails fait référence au test numérique défini pour le dispositif boundary scan non conforme. Il génère ensuite un test boundary scan qui pilote les dispositifs boundary scan de la chaîne afin d'exécuter les vecteurs de test sur le dispositif boundary scan non conforme. Le testeur pilote donc le dispositif boundary scan non conforme et le teste via la chaîne boundary scan.

L'outil de développement de tests Silicon Nails permet également aux utilisateurs de définir les vecteurs qu'ils souhaitent exécuter sur le dispositif de balayage de limite non conforme. L'outil de développement de tests génère le test de balayage de limite à sortir ou à entrer au niveau de la broche d'interconnexion concernée, générant ainsi le test de manière cohérente.

Le testeur en circuit i3070 est équipé d'un logiciel de diagnostic complet qui permet aux utilisateurs de dépanner facilement le testeur. Le logiciel de diagnostic comporte deux niveaux : basique et avancé.

Le niveau Diagnostic de base est le principal outil de dépannage utilisé par tous les utilisateurs pour vérifier la configuration matérielle, contrôler et isoler les défaillances matérielles. Certains tests de diagnostic nécessitent l'installation d'un dispositif de vérification des broches sur le système.

Le niveau « Advanced est réservé aux utilisateurs formés. En cas de défaillance détectée lors des diagnostics, des étapes supplémentaires sont exécutées afin de tester les performances des relais et d'identifier celui qui est défectueux. Cela permet à l'utilisateur d'obtenir des informations plus détaillées sur le problème.

Un dispositif logique programmable (PLD) est utilisé par les concepteurs lorsqu'ils doivent définir ou modifier la fonction du dispositif installé sur la carte de circuit imprimé. Ces dispositifs sont généralement utilisés lors de la phase NPI (nouveau produit) de la carte de circuit imprimé. Pour définir la fonction du PLD, celui-ci doit être programmé.

La fonctionnalité PLD ISP permet à l'ingénieur chargé du développement des tests de spécifier un fichier de configuration bitstream dans un fichier de test numérique VCL, de la même manière que pour la programmation d'un dispositif de mémoire Flash. La fonctionnalité PLD ISP prend en charge plusieurs formats de données de configuration PLD, notamment :

• Format vectoriel série (SVF)
• Langage standard de test et de programmation (STAPL)
• Confiture
• Fichiers objets Jam Byte Code (JBC)

Flash ISP est un logiciel optionnel qui améliore considérablement les vitesses de programmation Flash. Il y parvient grâce à l'utilisation de l'algorithme Flash ISP et aux fonctionnalités matérielles de la carte Control XTP ou d'une carte plus récente.