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K8228B シリコンネイル機能 開発およびランタイム、GTE 10.00p
シリコンネイルのテスト開発ツールでは、非対応のバウンダリスキャンデバイスで実行したいベクトルを定義することもできます。 テスト開発ツールはバウンダリスキャンテストを生成して、関連する相互接続ピンで出力または入力し、つまり一貫してテストを生成することができます。
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シリコンネイルのテスト開発ツールでは、非対応のバウンダリスキャンデバイスで実行したいベクトルを定義することもできます。 テスト開発ツールはバウンダリスキャンテストを生成して、関連する相互接続ピンで出力または入力し、つまり一貫してテストを生成することができます。
ハイライト
バウンダリスキャンは、プリント基板上の相互接続をテストするための方法です。 キーサイトのシリコンネイル機能により、プリント基板上のバウンダリスキャン対応デバイスに接続された非対応バウンダリスキャンデバイスのテストを開発、実行するために必要なすべてのツールが利用できます。
テスト開発中、シリコンネイルテスト開発ツールは、非対応のバウンダリスキャンデバイス用に定義されたデジタルテストを参照します。 そして、バウンダリスキャンテストを生成し、チェーン上のバウンダリスキャンデバイスを駆動して非対応バウンダリスキャンデバイスのテストベクトルを実行します。 つまり、テスターはバウンダリスキャンチェーンを介して非対応バウンダリスキャンデバイスを駆動し、テストしていることになります。
シリコンネイルのテスト開発ツールでは、非対応のバウンダリスキャンデバイスで実行したいベクトルを定義することもできます。 テスト開発ツールはバウンダリスキャンテストを生成して、関連する相互接続ピンで出力または入力し、つまり一貫してテストを生成することができます。
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