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K8213B 1149.6 バウンダリスキャンの特徴、GTE 10.00p
キーサイトのインターコネクト・プラス・バインダリ・スキャン1149.6機能は、このテスト方法を開発し、被試験ボード上で実行するために必要なすべてのツールを提供します。 1149.1規格と比較して、1149.6規格は、デバイスの高速動作に必要なAC結合信号または差動ネットを使用して設計されたバウンダリ・スキャン・デバイスのテスト手法を定義しています。
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キーサイトのインターコネクト・プラス・バインダリ・スキャン1149.6機能は、このテスト方法を開発し、被試験ボード上で実行するために必要なすべてのツールを提供します。 1149.1規格と比較して、1149.6規格は、デバイスの高速動作に必要なAC結合信号または差動ネットを使用して設計されたバウンダリ・スキャン・デバイスのテスト手法を定義しています。
ハイライト
バウンダリスキャンは、プリント基板上の相互接続を検査するための方法です。 キーサイトのインターコネクト・プラス・バインダリ・スキャン1149.6機能は、このテスト方法を開発し、被試験ボード上で実行するために必要なすべてのツールを提供します。 1149.1規格と比較して、1149.6規格は、デバイスの高速動作に必要なAC結合信号または差動ネットを使用して設計されたバウンダリ・スキャン・デバイスのテスト手法を定義しています。
有効化すると、インターコネクト・プラス・バインダリ・スキャン1149.6開発ツールは、プリント基板上で1149.6準拠のデバイスが検出されると、1149.6テストを自動的に生成します。
キーサイトは、1149.6テストのための最も包括的なテストパターンを用意しています。 差動ピンのショートやオープン、結合コンデンサの欠落などの不具合を検出することができます。
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