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K8217B Cover Extend機能、GTE 10.00p
Cover-Extendテクノロジー (CET) は、VTEPまたはnanoVTEPとCETシグナル・コンディショナ・カードのハードウェアを使用することで、非バウンダリ・スキャン・デバイスのバウンダリスキャン限定アクセスソリューションを拡張します。
Cover-Extendテクノロジー (CET) は、VTEPまたはnanoVTEPとCETシグナル・コンディショナ・カードのハードウェアを使用することで、非バウンダリ・スキャン・デバイスのバウンダリスキャン限定アクセスソリューションを拡張します。
ハイライト
Cover-Extendテクノロジー(CET)は、バウンダリスキャン出力セルを使用してコネクタとソケット信号ピンをテストすることにより、VTEPまたはnanoVTEPの測定能力をパワーテストに拡張します。 この機能は、VTEPまたはnanoVTEPとCETシグナル・コンディショナ・カードのハードウェアを使用することで、非バウンダリ・スキャン・デバイスのバウンダリスキャン限定アクセスソリューションを拡張します。
Cover-Extend測定は、バウンダリスキャン出力セルを使用して、コネクタ／ソケットおよび非バウンダリ・スキャン・デバイスに信号を駆動することで実現されます。 VTEPセンサプレートでピックアップされた信号は、Cover-Extendシグナル・コンディショナ・カードで増幅およびフィルタリングされ、信号品質を向上させます。
CET機能により、被試験デバイス上でテストベクトルを自動生成します。
機能の拡張
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