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M6800B Test Development is a tool that is designed for test development purposes before sending to production for runtime usage. It provides a comprehensive scope of test development features, including:

• Configuration
• Data preparation
• Test generation
• Fixture generation
• Debug

M6801B Run time license for Boundary Scan Analyzer provides a comprehensive testing solution that fully complies with the latest IEEE 1149.1-2013 standard. This tool is designed specifically for production runtime testing, allowing you to perform accurate and reliable testing of your products before they are shipped to customers.

The M6802B tool provides a powerful capability to test the functionality of embedded instruments within a semiconductor device without the need to define the instruments or their features. By adding the necessary ICL and PDL files as libraries and assigning them to the relevant devices, the tool can automatically generate tests for devices compliant with the IEEE 1687 standard.

The M6803B tool provides a powerful capability to test the functionality of embedded instruments within a semiconductor device without the need to define the instruments or their features. By adding the necessary ICL and PDL files as libraries and assigning them to the relevant devices, the tool can automatically generate tests for devices compliant with the IEEE 1687 standard.

M6804B Result Analyzer is a powerful software tool designed to analyze the raw test results of devices and identify the specific device pin location responsible for a test failure. With its advanced analytical capabilities, this software can assist engineers in diagnosing and resolving issues quickly and effectively, leading to improved product quality and reduced manufacturing costs.

Software Version 2.0 Upgrade Plan for runtime and test development is a service that allows the user to get the latest software revisions for their Keysight x1149 Boundary Scan Analyzer.

The M6808B SVF tool allows you to program CPLD/FPGA devices easily by importing external source files. The tool supports multiple file formats, including STAPL, JAM, JBC, and SVF, making it a versatile solution for various programming needs.

PathWave 製造分析平台結合量測專業知識、資料科學和大數據工程技術，可針對未來智慧工廠的各個層面，為製造商提供深入的洞察力，以便執行具體措施。 透過大數據進階分析，您可提高良率、減少重新進行測試與處理所耗費的時間，並避免因劣質產品而導致成本升高。 透過獨特的創新分析功能，您可加速回收投資並獲得豐碩的業務成果。

說明

• 透過廣泛的深度資料分析與過濾，查看工廠運作績效，包括整體運作效率（OEE）、良率、直通率（FPY）、重新測試、產能等等
• 節省工作空間，並且隨時隨地查看客製化儀表板，以掌握即時狀況

診斷

• 提供專為不同層級的操作人員、技術人員和工程師設計的無程式碼診斷工具和圖像化功能
• 您只需點擊滑鼠，即可找到問題根源，還可在多個測試、系統、測試夾具、零件、探測器之間進行比較

可預測性

• 使用最佳的機器學習異常偵測模型，預測即時製造過程中潛在的品質問題
• 只會收到「風險評分最高」的警示。 採取積極行動，避免造成災難性後果，並減輕品質不佳的風險，而且不再飽受大量告警疲乏轟炸

規範性

• 透過經最佳化的動態元件平均測試，設定即時自適應測試極限值
• 充分利用水平和垂直系統的轉換後資料和洞察力，將流程最佳化

• 智慧型架構 -- 支援 C/C++、VB、C#、VB.NET、Keysight VEE 等
• 切換器管理器 -- 簡化切換器拓撲配置工作
• 測試分析器 -- 可測試並最佳化各項測試的速率與效能
• 測試速率乘法器 -- 透過批次測試來同時量測多個待測單元，以提高測試速率
• 可重複使用的程式庫 -- 提供可重複使用程式碼的框架（handler、action 和測試序列）
• 多執行緒 -- 同時執行多個測試語句
• 作業系統 Test Exec SL 8.1：Window® 10。Windows® 7 Professional 或 Home Edition、Service Pack 1 或更高的版本
• 作業系統 Test Exec SL 7.1：Windows® 7 32 位元或 64 位元 Professional 或 Home Edition、Service Pack 1 或更高的版本。Windows® XP Professional 或 Home Edition、Service Pack 2 或更高的版本。Windows® 2000 Professional、Service Pack 4 或更高的版本

Keysight TestExec SL 軟體是可自訂、靈活的測試執行軟體，專為橫跨多個產業的電子製造功能測試應用而設計。

這套現成的測試執行軟體具有可以完全客製的操作介面、支援多種儀器整合的開放式架構、靈活的測試序列、簡單易用的除錯工具，以及用於大多數製造測試環境中的線路整合工具，可為測試開發人員提供莫大的幫助。

TestExec SL 可提高生產效率，尤其是為測試自動化提供了獨特的優勢，而且簡單易用。利用最新發佈的 TestExec SL 7.1，您可使用多執行緒功能來提高測試速率並縮短閒置時間。

深入了解 TestExec SL 的強大功能：

TestExec SL 7.1

TestExec SL 8.1

TestExec SL 安裝檔中內含使用者手冊與輔助說明檔。

探索如何將 TestExec SL Windows® XP 用於汽車功能性測試系統

TS-5000 系列汽車電子功能測試系統