所有軟體型錄

全自動晶圓和晶片級測試解決方案，支援整合式光學技術

可輕鬆將晶圓探測器控制功能整合到 TAP 測試序列中

• 支援光學和電子探棒定位與校準的測試步驟
• 支援陣列/單一光纖探棒、邊緣與表面耦合、射頻/直流探棒和靈活的探棒方向（東/西/北/南）
• 自動裝置步進和探測器狀態控制
• 量測測試計畫和裝置資料管理（匯入/匯出/編輯裝置座標、裝置 meta 參數及測試條件）

支援的晶圓探測器

• Formfactor CM300xi 搭配 Velox 軟體和 Silicon Photonics 工具

Keysight PathWave 測試自動化平台（TAP）是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體，可透過儀器外掛軟體來增加工作流程序列，無需使用儀器級編程指令。 N7700210C 晶圓探測器外掛軟體可與 Formfactor 半自動探針台硬體和 Formfactor Velox & Silicon Photonics 工具軟體連接，以進一步簡化自動化流程。 您可透過測試步驟，了解測試計畫內的晶圓基座位移和探棒定位與校準作業，並可與儀器測試執行步驟完美結合。 此外，您可輕鬆進行晶圓探測器定位設定配置，以及射頻和光學探棒的配置。 可單獨使用，也可與更高等級的測試執行軟體環境結合使用。

是德科技晶圓探測器樣本測試計畫和探測步驟

裝置元件清單和元件光學 IO 埠特性範例

• 以高達 409,601 點 FFT，對時域和頻域進行分析
• 提供靈活的軌跡和顯示，可同時執行多個量測
• AM、FM、PM 訊號的類比解調
• 適用於功率放大器的 AM/AM、AM/PM 和增益壓縮
• 具有可選的位準、斜率、延遲和遲滯的觸發
• 可記錄並播放所擷取的信號波形，以便進行除錯
  
• 使用簡單的寬頻多音頻激發信號，進行群組延遲量測（通道品質調變分析）
• 匯入/匯出擷取自，抑或是送入 Keysight N7621B Signal Studio 軟體的多音頻激發訊號定義（通道品質調變分析）
• 以量測到的訊號資料，對輸入激發源模型進行校驗（通道品質調變分析）
• 執行簡單、可重複的相位與振幅通道響應分析（通道品質調變分析）
• 支援同步（同時）或定序擷取模式，以執行多種量測

此軟體可單獨安裝，也可與是德科技示波器結合使用，以便分析複雜的調變光學信號。

• 量測雙極化 IQ 信號的誤差向量振幅（EVM），包括詳細的缺損分析。 遵循 ITU G.698.2 和最新的 OIF 400ZR 標準草案進行 EVM 量測。
• 支援標準和使用者定義的星座圖。
• 分析軟體可顯著縮短設定時間。
• 調變格式透明預處理演算法，包括我們獨家的 Stokes 空間極化解多工技術。
• 易用的介面，方便您將自己的 MATLAB 演算法，添加到預處理鏈中。
• 隨附的量測工具包括雷射線寬、光學統計表和 3D Poincaré 偏振分析等。
• 可與硬體緊密整合，讓您能更靈活地進行各種儀器配置。
• 隨附具機率星座塑形功能的訊號分析工具。

獨立的複雜調變光學訊號分析軟體

您可直接在 PC 上，使用是德科技光學調變分析儀（OMA）產品組合中的分析軟體，無需另外添購任何儀器。 它提供多元的分析功能，例如針對複雜調變光學訊號執行先進的訊號處理演算法。

藉由使用 Keysight OMA 軟體，您可處理並分析以 .sdf、.mat 或 .csv 檔案格式儲存的原始資料。您可使用 Keysight OMA 功能來處理這些資料，就像直接面對儀器進行操作一樣。 您可結合使用 MATLAB 編譯器，開發您自己的訊號處理演算法並進行離線測試。 此外，這套軟體可幫助您以儲存的檔案，學習複雜光學調變的基本和進階概念。

獨立安裝軟體的優點包括：

• 各種分析參數的後處理記錄，可讓您輕鬆進行展示，而不會阻塞硬體
• 實機學習複雜的光訊號傳輸
• 可離線使用是德科技訊號處理演算法

示波器硬體連接的優點包括：

• 結合使用 Keysight UXR 系列、Z 系列或 90000 系列即時示波器，以及 OMA 向量分析軟體，分析您的接收器硬體。
• 可存取接收器校驗值（偏移、增益不平衡等），以便評估接收器對這些參數的敏感度。
• 在真實應用條件下測試您自己的 IQ 混合系統。

先試再買

1. 使用 Photonic Applications Package Manager 下載最新版本的軟體。
2. 請點擊此處，以取得 N4391SALC 30 天試用授權。
3. 如果您還沒有 89601200C 和 89601AYAC 的有效授權，請點擊此處申請 30 天試用授權。

如需其他相關產品，請參閱基本光學產品組合和 UXR 系列示波器。

將 LCA 量測輕易地整合入 TAP 測試序列中

• 提供光學/電子、電子/光學和光學/光學頻譜量測的測試步驟
• 提供單端或平衡射頻埠之裝置的測試步驟
• 提供清晰的量測設定、校驗和去嵌入的步驟配置
• 在 TAP 結果顯示器中提供結果顯示模板

支援的儀器

• 基於 PNA 的光波元件分析儀：N4373E、N4373D、N4373C、N4373B、N4375E、N4375D、N4375B、N4376E、N4376D 和 N4376B

Keysight PathWave 測試自動化平台（TAP）是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體，可單獨使用，也可與高階測試執行軟體環境搭配使用。 您可將儀器外掛程式提供的測試步驟新增至工作流程序列，無需使用儀器級編程指令。 LCA 外掛程式可連接 PNA 儀器和 LCA 光學硬體與軟體，以進一步簡化自動化流程，並提供易於配置的測試步驟。

• 對與極化相關的插入損耗和光學/電子響應度參數進行單次掃描多通道量測
• 產生 IL、PDL、主軸（TE/TM 或 s/p）IL、O/E 響應度（平均、最小/最大 vs. 極化）、回返損耗和其他衍生參數
• FLS 量測，不需要額外的 N7700102C 授權
• 靜態極化設定，可用於進行探棒對準、裝置最佳化或固定極化掃描
• 單次掃描 PDL 期間快速進行極化切換，可將對振動和漂移的敏感度降到最低
• 60 dB 動態範圍，可透過功率範圍拼接擴展至 > 80 dB

• 40 多種調變格式：FSK、PSK、QAM、客製的 APSK
• 30 多種標準預設：Bluetooth、ZigBee、TETRA、Wi-SUN
• 超過 10 種濾波器類型：RC、RRC、高斯、使用者自訂
• 在 EVM、星座圖中，比較量測值與理想值
• 精確找出 IQ 偏移、增益不平衡等缺陷
• 使用自適應等化濾波器識別線性誤差
• 對非標準之使用者自訂 IQ 訊號（客製 IQ ）進行數位調變分析
• 執行 TETRA 增強型資料服務（TEDS）調變分析

Keysight N4917DJCA 解決方案包含軟體應用程式、M8050A 120 Gbaud 高效能位元錯誤率測試儀、干擾源、光學參考發射器、光學取樣示波器、可調雷射源和光學衰減器。自動校準可確保高水準的準確度和可重複性，相較於手動操作，可大幅縮短校準和測試時間。

功能

• 符合 IEEE 802.3 標準，適用於採用 100G 和 200G / λ 光學介面的 800G 和 1.6T 模組的壓力光學接收器特性分析。
• 遵循 IEEE 802.3 條款 124、167、140、151、180、181、182 和 183（IEEE 802.3cn / cu / db / df 和 dj 專案）中描述的測試程序。
• 提供一套統包解決方案，可自動化所有必要的儀器。
• 確保光學壓力 PAM4 訊號的可重複且穩定的校準。
• 可設定外部消光比、傳輸和色散眼圖閉合，以及光學調變振幅的可調整目標值。

功能性

• 透過 N4917DJCA 軟體提供統一的儀器控制和設定。
• 自動化壓力訊號校準、接收器靈敏度和抖動容限量測。
• 透過待測裝置控制和腳本介面，實現客製化裝置測試和報告。
• 包含用於使用者定義校準的可調整壓力混合。
• 根據客戶定義的參數設定，提供彈性的校準。

• 完全誤差校正的時域反射或傳輸響應
• 提供閘控功能，以消除不必要的響應（例如來自測試夾具的響應）
• 將頻域轉換為時域，或將時域轉換為頻域
• 有助於調諧多種濾波器類型，包括腔體諧振濾波器
• 相容於所有 USB 向量網路分析儀

時域功能可讓您量測裝置的時域響應。分析儀可將頻域資料轉換為時域，或將時域資料轉換為頻域。

分析儀所使用的轉換類似於時域反射儀 (TDR) 量測。然而，TDR 量測是透過將脈衝或步進訊號發射到測試裝置中，並使用類似示波器的接收器觀察時間響應來進行的。相較之下，分析儀會進行掃頻響應量測，並將資料數學轉換為類似時域反射儀的顯示。

S97010B 軟體與 Keysight Streamline 系列向量網路分析儀相容。

進一步了解 Keysight 網路分析儀軟體