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全自動晶圓和晶片級測試解決方案，支援整合式光學技術

可輕鬆將晶圓探測器控制功能整合到 TAP 測試序列中

• 支援光學和電子探棒定位與校準的測試步驟
• 支援陣列/單一光纖探棒、邊緣與表面耦合、射頻/直流探棒和靈活的探棒方向（東/西/北/南）
• 自動裝置步進和探測器狀態控制
• 量測測試計畫和裝置資料管理（匯入/匯出/編輯裝置坐標、裝置 meta 參數及測試條件）

支援的晶圓探測器

• Formfactor CM300xi 搭配 Velox 軟體和 Silicon Photonics 工具

Keysight PathWave 測試自動化平台（TAP）是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體，可透過儀器外掛軟體來增加工作流程序列，無需使用儀器級編程指令。 N7700210C 晶圓探測器外掛軟體可與 Formfactor 半自動探針台硬體和 Formfactor Velox & Silicon Photonics 工具軟體連接，以進一步簡化自動化流程。 您可透過測試步驟，了解測試計畫內的晶圓基座位移和探棒定位與校準作業，並可與儀器測試執行步驟完美結合。 此外，您可輕鬆進行晶圓探測器定位設定配置，以及射頻和光學探棒的配置。 可單獨使用，也可與更高階的測試執行軟體環境結合使用。

是德科技晶圓探測器樣本測試計畫和探測步驟

裝置元件清單和元件光學 IO 埠特性範例

• 以高達 409,601 點 FFT，對時域和頻域進行分析
• 提供靈活的軌跡和顯示，可同時執行多個量測
• AM、FM、PM 信號的類比解調
• 適用於功率放大器的 AM/AM、AM/PM 和增益壓縮
• 具有可選的位準、斜率、延遲和遲滯的觸發
• 可紀錄並播放所擷取的信號波形，以便進行除錯
  
• 使用簡單的寬頻多音頻激發信號，進行群組延遲量測（通道品質調變分析）
• 匯入/匯出擷取自，抑或是送入 Keysight N7621B Signal Studio 軟體的多音頻激發信號定義（通道品質調變分析）
• 以量測到的信號資料，對輸入激發源模型進行校驗（通道品質調變分析）
• 執行簡單、可重複的相位與振幅通道響應分析（通道品質調變分析）
• 支援同步（同時）或定序擷取模式，以執行多種量測

此軟體可單獨安裝，也可與是德科技示波器結合使用，以便分析複雜的調變光學信號。

• 量測雙極化 IQ 信號的誤差向量振幅（EVM），包括詳細的缺損分析。 遵循 ITU G.698.2 和最新的 OIF 400ZR 標準草案進行 EVM 量測。
• 支援標準和使用者定義的星座圖。
• 分析軟體可顯著縮短設定時間。
• 調變格式透明預處理演算法，包括我們獨家的 Stokes 空間極化解多工技術。
• 易用的介面，方便您將自己的 MATLAB 演算法，添加到預處理鏈中。
• 隨附的量測工具包括雷射線寬、光學統計表和 3D Poincaré 偏振分析等。
• 可與硬體緊密整合，讓您能更靈活地進行各種儀器配置。
• 隨附具概率星座塑形功能的信號分析工具。

獨立的複雜調變光學信號分析軟體

您可直接在 PC 上，使用是德科技光學調變分析儀（OMA）產品組合中的分析軟體，無需另外添購任何儀器。 它提供多元的分析功能，例如針對複雜調變光學信號執行先進的信號處理演算法。

藉由使用 Keysight OMA 軟體，您可處理並分析以 .sdf、.mat 或 .csv 檔案格式儲存的原始資料。您可使用 Keysight OMA 功能來處理這些資料，就像直接面對儀器進行操作一樣。 您可結合使用 MATLAB 編譯器，開發您自己的信號處理演算法並進行離線測試。 此外，這套軟體可幫助您以儲存的檔案，學習複雜光學調變的基本和進階概念。

獨立安裝軟體的優點包括：

• 各種分析參數的後處理記錄，可讓您輕鬆進行展示，而不會阻塞硬體
• 實機學習複雜的光信號傳輸
• 可離線使用是德科技信號處理演算法

示波器硬體連接的優點包括：

• 結合使用 Keysight UXR 系列、Z 系列或 90000 系列即時示波器，以及 OMA 向量分析軟體，分析您的接收器硬體。
• 可存取接收器校驗值（偏移、增益不平衡等），以便評估接收器對這些參數的敏感度。
• 在真實應用條件下測試您自己的 IQ 混合系統。

先試再買

1. 使用 Photonic Applications Package Manager 下載最新版本的軟體。
2. 請點擊此處，以取得 N4391SALC 30 天試用授權。
3. 如果您還沒有 89601200C 和 89601AYAC 的有效授權，請點擊此處申請 30 天試用授權。

如需其他相關產品，請參閱基本光學產品組合和 UXR 系列示波器。

將 LCA 量測輕鬆地整合入 TAP 測試序列中

• 提供光學/電子、電子/光學和光學/光學頻譜量測的測試步驟
• 提供單端或平衡射頻埠之裝置的測試步驟
• 提供清楚的量測設定、校驗和解嵌入的步驟配置
• 在 TAP 結果顯示器中提供結果顯示樣板

支援的儀器

• 基於 PNA 的光波元件分析儀：N4373E、N4373D、N4373C、N4373B、N4375E、N4375D、N4375B、N4376E、N4376D 和 N4376B

Keysight PathWave 測試自動化平台（TAP）是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體，可單獨使用，也可與高階測試執行軟體環境搭配使用。 您可將儀器外掛程式提供的測試步驟新增至工作流程序列，無需使用儀器級編程指令。 LCA 外掛程式可連接 PNA 儀器和 LCA 光學硬體與軟體，以進一步簡化自動化流程，並提供易於配置的測試步驟。

• 對與極化相關的插入損耗和光學/電子響應度參數進行單次掃描多通道量測
• 產生 IL、PDL、主軸（TE/TM 或 s/p）IL、O/E 響應度（平均、最小/最大 vs. 極化）、回返損耗和其他衍生參數
• FLS 量測，不需要額外的 N7700102C 授權
• 靜態極化設定，可用於進行探棒對準、裝置最佳化或固定極化掃描
• 單次掃描 PDL 期間快速進行極化切換，可將對振動和漂移的敏感度降到最低
• 60 dB 動態範圍，可透過功率範圍拼接擴展至 > 80 dB

• 40 多種調變格式：FSK、PSK、QAM、客製的 APSK
• 30 多種標準預設：Bluetooth、ZigBee、TETRA、Wi-SUN
• 超過 10 種濾波器類型：RC、RRC、高斯、使用者自訂
• 在 EVM、星座圖中，比較量測值與理想值
• 精確找出 IQ 偏移、增益不平衡等缺損
• 使用自適應等化濾波器識別線性誤差
• 對非標準之使用者自訂 IQ 信號（客製 IQ ）進行數位調變分析
• 執行 TETRA 增強型資料服務（TEDS）調變分析

The Keysight N4917DJCA solution consists of the software application, an M8050A 120 Gbaud high-performance bit error ratio tester, an interference source, an optical reference transmitter, an optical sampling oscilloscope, a tunable laser source, and an optical attenuator. Automated calibration ensures a high level of accuracy and repeatability and speeds up calibration and test time significantly compared to manual operation.

Capabilities

• Meets IEEE 802.3 standard for stressed optical receiver characterization for 800G and 1.6T modules with 100G and 200G / λ optical interfaces.
• Follows the test procedures described in IEEE 802.3 clauses 124, 167, 140, 151,180, 181, 182, and 183 (IEEE 802.3cn / cu / db / df and dj projects).
• Provides a turnkey solution that automates all required instruments.
• Ensures repeatable and stable calibration of optical stressed PAM4 signals.
• Enables adjustable target values for outer extinction ratio, transmission and dispersion eye closure, and optical modulation amplitude.

Functionalities

• Provides unified instrument control and settings with the N4917DJCA software.
• Automates stress signal calibration, receiver sensitivity, and jitter tolerance measurements.
• Enables customized device testing and reporting via device-under-test control and scripting interface.
• Includes adjustable stress mix for user-defined calibration.
• Offers flexible calibration based on customer-defined parameter settings.

• Fully error-corrected time domain reflection or transmission response
• Gating available to remove unwanted responses (from test fixtures for example)
• Transform frequency domain to the time domain or time domain to the frequency domain
• Beneficial in tuning many filter types, including cavity-resonator filters
• Compatible with all the USB vector network analyzer

The time domain capability allows you to measure the time domain response of a device. The analyzer can transform frequency domain data to the time domain or time domain data to the frequency domain.

The transform used by the analyzer resembles time domain reflectometry (TDR) measurements. TDR measurements, however, are made by launching an impulse or step into the test device and observing the response in time with a receiver similar to an oscilloscope. In contrast, the analyzer makes swept frequency response measurements, and mathematically transforms the data into a time domain reflectometer-like display.

The S97010B software is compatible with the Keysight Streamline Series Vector Network Analyzers.

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