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Explore planos de suporte com curadoria, priorizados para mantê-lo inovando com velocidade.
Maximize a precisão e o desempenho com acessórios de alta precisão projetados para os instrumentos da Keysight.
Explore a análise de sinais de canal duplo e de banda ultralarga para fluxos de trabalho de RF exigentes.
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Sem filtro disponível
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Simplifica a automação de medições ópticas/RF de LCA com TAP
Simplifica a automação de medições ópticas/RF de LCA com TAP
N4370P01A
Simplifica a automação de medições ópticas/RF de LCA com TAP
O Keysight Test Automation on PathWave (TAP) é um aplicativo moderno baseado em Microsoft .NET para uso independente ou em combinação com ambientes de software executivo de teste de nível superior. Os plug-ins de instrumentos fornecem etapas de teste que podem ser adicionadas às sequências de fluxo de trabalho sem comandos de programação no nível do instrumento. As etapas do plug-in LCA simplificam ainda mais a automação, lidando com a interface tanto para o instrumento PNA quanto para o hardware e software óptico LCA e fornecendo as etapas de teste para fácil configuração.
Use o software de análise comprovado do portfólio de analisadores de modulação óptica da Keysight em seu PC para uma análise mais profunda dos dados gravados.
Use o software de análise comprovado do portfólio de analisadores de modulação óptica da Keysight em seu PC para uma análise mais profunda dos dados gravados.
N4391SALC
Use o software de análise comprovado do portfólio de analisadores de modulação óptica da Keysight em seu PC para uma análise mais profunda dos dados gravados.
Analise sinais ópticos modulados complexos com este software, seja como uma instalação de software independente ou em combinação com um osciloscópio Keysight.
O software de análise do portfólio de analisadores de modulação óptica (OMA) da Keysight pode ser usado em seu PC sem qualquer instrumentação. Ele oferece recursos de análise, como algoritmos avançados de processamento de sinal para sinais ópticos modulados complexos.
Use este software para processar e analisar dados brutos armazenados como arquivos .sdf, .mat ou .csv a partir de medições com qualquer Keysight OMA. Esse recurso permite que você trabalhe com os dados como se estivesse trabalhando diretamente na frente do instrumento. Desenvolva seus próprios algoritmos de processamento de sinal e teste-os offline, juntamente com seu compilador MATLAB. Além disso, este software é uma ferramenta eficaz para aprender conceitos básicos e avançados de modulação óptica complexa, com base em arquivos armazenados.
Os benefícios de uma instalação de software independente incluem o seguinte:
Os benefícios da conexão de hardware do escopo incluem o seguinte:
Para outros produtos relacionados, consulte o portfólio básico de fotônica e os osciloscópios da série UXR.
Integre facilmente o controle do wafer prober nas sequências de teste TAP para obter uma solução totalmente automatizada de teste de wafer e chip para fotônica integrada.
Integre facilmente o controle do wafer prober nas sequências de teste TAP para obter uma solução totalmente automatizada de teste de wafer e chip para fotônica integrada.
N7700210C
Integre facilmente o controle do wafer prober nas sequências de teste TAP para obter uma solução totalmente automatizada de teste de wafer e chip para fotônica integrada.
O Keysight Test Automation on PathWave (TAP) é um aplicativo moderno baseado em Microsoft .NET que pode ser usado de forma independente ou em combinação com ambientes de software executivo de teste de nível superior. Os plug-ins de instrumentos fornecem etapas de teste que podem ser adicionadas às sequências de fluxo de trabalho sem a necessidade de usar comandos de programação em nível de instrumento. O plug-in N7700210C Wafer Prober simplifica ainda mais a automação, lidando com a interface para o hardware da estação de sonda semiautomatizada Formfactor e o software Formfactor Velox e Silicon Photonics Tools. As etapas de teste realizam o movimento do mandril da pastilha e as tarefas de posicionamento e alinhamento da sonda dentro de um plano de teste e podem ser combinadas com as etapas de execução do teste do instrumento. A configuração fácil das definições do wafer prober para posicionamento e para sondas RF e ópticas está incluída nas etapas de teste.

Plano de teste de amostra do wafer prober da Keysight com etapas do prober

Lista de elementos do dispositivo e exemplo de características da porta IO óptica do elemento
Saiba mais sobre o PathWave Test Automation e o Integrated Photonics Test
Demodule uma ampla gama de sinais com modulações de BPSK a 4096 QAM, além de predefinições para muitos padrões de celular, rede sem fio e vídeo digital.
Demodule uma ampla gama de sinais com modulações de BPSK a 4096 QAM, além de predefinições para muitos padrões de celular, rede sem fio e vídeo digital.
89601AYAC
Demodule uma ampla gama de sinais com modulações de BPSK a 4096 QAM, além de predefinições para muitos padrões de celular, rede sem fio e vídeo digital.
Permite medições multicanais de comprimento de onda varrido dependentes da polarização com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS IL/PDL, bem como medições sem variação da polarização com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS FSIL.
Permite medições multicanais de comprimento de onda varrido dependentes da polarização com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS IL/PDL, bem como medições sem variação da polarização com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS FSIL.
N7700100C
Permite medições multicanais de comprimento de onda varrido dependentes da polarização com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS IL/PDL, bem como medições sem variação da polarização com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS FSIL.
Permite medições multicanais rápidas com varredura de comprimento de onda com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS FSIL.
Permite medições multicanais rápidas com varredura de comprimento de onda com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS FSIL.
N7700102C
Permite medições multicanais rápidas com varredura de comprimento de onda com o mecanismo PAS LS e o mecanismo PAS FSIL.
Permite a medição de comprimento de onda varrido do atraso de grupo diferencial (DGD) e da dispersão do modo de polarização (PMD), bem como do IL (também para polarização TE/TM) e do PDL com o N7788C e o mecanismo PAS LS.
Permite a medição de comprimento de onda varrido do atraso de grupo diferencial (DGD) e da dispersão do modo de polarização (PMD), bem como do IL (também para polarização TE/TM) e do PDL com o N7788C e o mecanismo PAS LS.
N7700103C
Permite a medição de comprimento de onda varrido do atraso de grupo diferencial (DGD) e da dispersão do modo de polarização (PMD), bem como do IL (também para polarização TE/TM) e do PDL com o N7788C e o mecanismo PAS LS.
A capacidade de análise no domínio do tempo do S97010B permite medir a resposta no domínio do tempo de um dispositivo. O analisador pode transformar dados do domínio da frequência para o domínio do tempo ou dados do domínio do tempo para o domínio da frequência.
A capacidade de análise no domínio do tempo do S97010B permite medir a resposta no domínio do tempo de um dispositivo. O analisador pode transformar dados do domínio da frequência para o domínio do tempo ou dados do domínio do tempo para o domínio da frequência.
S97010B
A capacidade de análise no domínio do tempo do S97010B permite medir a resposta no domínio do tempo de um dispositivo. O analisador pode transformar dados do domínio da frequência para o domínio do tempo ou dados do domínio do tempo para o domínio da frequência.
A capacidade do domínio do tempo permite medir a resposta do domínio do tempo de um dispositivo. O analisador pode transformar dados do domínio da frequência para o domínio do tempo ou dados do domínio do tempo para o domínio da frequência.
A transformação utilizada pelo analisador assemelha-se às medições de refletometria no domínio do tempo (TDR). No entanto, as medições TDR são feitas lançando um impulso ou passo no dispositivo de teste e observando a resposta no tempo com um receptor semelhante a um osciloscópio. Em contrapartida, o analisador faz medições de resposta de frequência varrida e transforma matematicamente os dados em uma exibição semelhante a um refletômetro no domínio do tempo.
O software S97010B é compatível com os analisadores de rede vetorial da série Streamline da Keysight.
Saiba mais sobre o software Keysight Network Analyzer
O Keysight 89601200C fornece análise avançada de sinal vetorial com conectividade de hardware ou gravação sem limites na frequência central e na largura de banda IF/BBIQ, até 64 canais de medição e 512 instâncias VSA paralelas
O Keysight 89601200C fornece análise avançada de sinal vetorial com conectividade de hardware ou gravação sem limites na frequência central e na largura de banda IF/BBIQ, até 64 canais de medição e 512 instâncias VSA paralelas
89601200C
O Keysight 89601200C fornece análise avançada de sinal vetorial com conectividade de hardware ou gravação sem limites na frequência central e na largura de banda IF/BBIQ, até 64 canais de medição e 512 instâncias VSA paralelas
Oferece calibração de olho de estresse e teste de receptor totalmente automatizados para módulos 800G e 1.6T com interfaces ópticas 100G e 200G / λ.
Oferece calibração de olho de estresse e teste de receptor totalmente automatizados para módulos 800G e 1.6T com interfaces ópticas 100G e 200G / λ.
N4917DJCA
Oferece calibração de olho de estresse e teste de receptor totalmente automatizados para módulos 800G e 1.6T com interfaces ópticas 100G e 200G / λ.
A solução Keysight N4917DJCA consiste no aplicativo de software, um testador de taxa de erros de bits de alto desempenho M8050A 120 Gbaud, uma fonte de interferência, um transmissor de referência óptica, um osciloscópio de amostragem óptica, uma fonte de laser sintonizável e um atenuador óptico. A calibração automatizada garante um alto nível de precisão e repetibilidade e acelera significativamente o tempo de calibração e teste em comparação com a operação manual.
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