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集積フォトニクス用の完全自動化ウェハー／チップ・スケール・テスト・ソリューション

TAPテストシーケンス内部でウェハプローバー制御を容易に統合

• 光／電気プローブのポジショニング／アライメント用のテストステップ
• アレイ／シングル・ファイバー・プローブ、エッジ／表面結合、RF/DCプローブをサポート、柔軟なプローブの向き（東西南北）
• 自動デバイスステッピング／プローバーのステータス制御
• 測定テストのプランニングとデバイスデータの管理（デバイス座標、デバイス・メタ・パラメータ、テスト条件のインポート／エクスポート／編集）

ウェハプローバーのサポート

• FormFactor社のCM300xiおよびVeloxソフトウェア、シリコン・フォトニクス・ツール
   

Keysight Test Automation on PathWave(TAP)は最新のMicrosoft .NETベースのアプリケーションで、スタンドアロンでも、上位のテスト・エグゼクティブ・ソフトウェア環境と組み合わせても使用できます。測定器プラグインは、測定器レベルのプログラミングコマンドを使用しなくてもワークフローシーケンスに追加できるテストステップを提供します。N7700210C ウエハー・プローバー・プラグインを使用すれば、FormFactor社の半自動プローブ・ステーション・ハードウェア、FormFactor Veloxソフトウェア、シリコン・フォトニクス・ツールに対するインタフェースを制御して、さらに自動化を簡素化できます。テストステップは、ウエハーチャックの移動や、プローブのポジショニング／アライメントといった作業をテストプラン内で実行でき、測定器のテスト実行手順と組み合わせることができます。ポジショニングやRF/光プローブの設定に必要なウエハープローバーの設定はテストステップ内で提供されるので、容易な設定が可能です。

ウェハプローバーサンプルテスト計画とプローバーステップ
 

デバイス要素のリストと要素の光IOポート特性の例
 

Pathwaveテストオートメーションと集積フォトニックステストの詳細をご覧ください。

TAPテストシーケンスにLCA測定を容易に統合

• 光／電気、電気／光、光／光の各スペクトル測定用テストステップ
• シングルエンドまたはバランスRFポートを持つデバイスのテストステップ
• 測定設定、校正、デエンベディングのための明確なステップ構成
• TAP結果ビュワーでの結果表示用テンプレート

対応する測定器

• PNAベースの光波コンポーネントアナライザ：N4373E、N4373D、N4373C、N4373B、N4375E、N4375D、N4375B、N4376E、N4376D、およびN4376B

キーサイトのPathWaveでのテストオートメーション(TAP)は、Microsoft .NETベースの最新アプリケーションで、スタンドアロンでの使用や上位のテスト実行ソフトウェア環境と組み合わせて使用することができます。 測定器プラグインは、測定器レベルのプログラミングコマンドを使用せずにワークフローシーケンスに追加できるテストステップを提供します。 LCAプラグインステップは、PNA測定器とLCA光ハードウェアおよびソフトウェアの両方へのインターフェースを処理し、簡単な設定を可能にするテストステップを提供することにより、自動化をさらに簡素化します。

このソフトウェアは、スタンドアロンでインストールするか、またはキーサイトのオシロスコープと組み合わせることで、I/Q光変調信号を解析することができます。

• 詳細な障害解析など、デュアル偏波IQ信号のエラーベクトル振幅（EVM）を測定できます。 規格準拠のEVM測定は、ITU G.698.2およびOIF 400ZRの最新ドラフトに準拠しています。
• 規格およびユーザー定義のコンスタレーションマップのサポートを受けることができます。
• 解析ソフトにより、セットアップ時間を短縮できます。
• 変調方式透過型前処理アルゴリズムには、ストークス空間での偏波分離が含まれます。
• インターフェースにより、独自のMATLABアルゴリズムを前処理チェーンに追加できます。
• レーザー線幅、光学統計表、3Dポアンカレ偏波解析などの測定ツールも備えています。
• ハードウェアを完全に統合することにより、さまざまな機器構成に柔軟に対応できます。
• 確率的コンスタレーションシェーピング機能を備えた信号解析ツールも備えています。

I/Q光変調信号解析用スタンドアローンソフトウェア

キーサイトの光変調アナライザ（OMA）ポートフォリオの解析ソフトウェアはご使用のPCで使用でき、測定システムは不要です。 I/Q光変調信号用の高度な信号処理アルゴリズムなど、解析機能を備えています。

このソフトウェアを使用すれば、キーサイトのOMAでの測定で.sdf、.mat、または.csvファイルとして保存された生データを処理／解析することができます。この機能を用いることにより、測定器の前で直接作業しているかのようにデータを処理することができます。 MATLABコンパイラとともにも使用することにより、独自の信号処理アルゴリズムを開発し、オフラインでテストすることができます。 さらに、このソフトウェアは、I/Q光変調の基本的な概念と高度な概念を保存ファイルに基づいて学習するのに効果的なツールです。

スタンドアロンソフトウェアをインストールするメリットは以下の通りです。

• 各種分析パラメータを使用した記録をポストプロセッシングし、プレゼンテーションで使用可能。ハードウェアのブロックは不要
• I/Q光伝送に関する実地学習
• キーサイトの信号処理アルゴリズムのオフラインでの使用

オシロスコープハードウェア接続のメリットは以下の通りです。

• Keysight UXRシリーズ、Zシリーズ、または90000シリーズ リアルタイムオシロスコープと、OMAベクトル解析ソフトウェアを組み合わせることで、ご自身のレシーバーハードウェアを解析できます。
• レシーバーの校正値（スキュー、利得不平衡など）にアクセスし、これらのパラメータに対する感度を評価できます。
• 実際のアプリケーション条件で独自のIQハイブリッドをテストできます。

購入前にお試し

1. フォトニック・アプリケーションズ・パッケージ・マネージャーを使用すると、最新版のソフトウェアをダウンロードできます。
2. N4391SALCの30日間試用ライセンスは、こちらから入手してください。
3. 89601200Cおよび89601AYACの有効なライセンスをまだお持ちでない方は、こちらから30日間の試用ライセンスをお申し込みください。

その他の関連製品については、フォトニクスの基本ポートフォリオとUXRシリーズ オシロスコープをご覧ください。

• 完全に誤差補正されたタイムドメイン反射または伝送応答
• ゲーティングによる（テストフィクスチャなどからの）不要な応答の除去
• 周波数ドメインからタイムドメインへの変換またはタイムドメインから周波数ドメインへの変換
• キャビティー共振器のフィルターなど、さまざまなタイプのフィルターをチューニングする場合に有効
• すべてのUSBベクトル・ネットワーク・アナライザで使用可能

タイムドメイン機能により、デバイスのタイムドメイン応答を測定することができます。 このアナライザでは、周波数ドメインデータからタイムドメインへの変換またはタイム・ドメイン・データから周波数ドメインへの変換が可能です。

アナライザに採用されている変換方式は、タイム・ドメイン・リフレクトメトリー（TDR）測定と似ています。 ただし、TDR測定はインパルスまたはステップ信号をテスト機器に印加し、その応答をオシロスコープのようにレシーバーでモニターすることによって行われます。 これに対して、このアナライザでは、周波数掃引応答測定が実行され、データがタイム・ドメイン・リフレクトメータのような表示に数学的に変換されます。

S97010B ソフトウェアは、Keysight Streamlineシリーズ ベクトル・ネットワーク・アナライザと互換性があります。

キーサイト ネットワーク・アナライザ・ソフトウェアの詳細

• 偏波依存挿入損失と光 \ 電気レスポンシビティパラメータのシングル掃引マルチチャネル測定
• 主軸（TE/TMまたはs/p）でのIL、PDL、IL、O/Eレスポンシビティ（平均、最小／最大対偏波）、リターンロス、その他の派生パラメータ
• 追加のN7700102CライセンスなしでFLS測定
• プローブ調整またはデバイス最適化または固定偏波スキャンのための静的偏波設定
• 単一掃引PDL中の高速偏波スイッチングにより、振動とドリフトに対する感度を最小化
• 60 dBのダイナミックレンジ、パワー出力範囲スティッチングで> 80dBまで拡張可能

• FSK、PSK、QAM、カスタムAPSK等の40種類の変調フォーマット
• Bluetooth(R)、ZigBee、TETRA、Wi-SUN等の30種類の標準プリセット
• RC、RRC、ガウシアン、ユーザー定義等の10種類のフィルタータイプ
• EVM、コンスタレーションにおける実測値と理想値の比較
• IQオフセット、利得不均衡などの障害の特定
• イコライゼーションフィルターによる線形誤差の特定
• 非標準のユーザー定義のIQ信号（カスタムIQ）をデジタル変調解析
• TEDS(TETRA Enhanced Data Services)変調解析

• 最大409,601ポイントのFFTによるタイムドメイン／周波数ドメイン解析
• 同時測定およびマルチ測定による、柔軟性の高いトレースと表示
• AM、FM、PM信号のアナログ復調
• パワーアンプのAM/AM、AM/PM、利得圧縮
• レベル、スロープ、遅延、ホールドオフが選択可能なトリガ
• トラブルシューティング用に再生するための、取得した信号波形の記録
  
• シンプルな広帯域マルチトーン入力信号を使用して群遅延測定を実行（チャネル品質変調解析）
• Keysight N7621B Signal Studioソフトウェアからあるいはソフトウェアへ、マルチトーン入力信号定義をインポート／エクスポート（チャネル品質変調解析）
• 測定した信号データを使用して入力信号モデルの校正（チャネル品質変調解析）
• シンプルで再現可能な位相および振幅チャネル応答解析の実行（チャネル品質変調解析）
• 複数の測定値に対応した同期（同時）またはシーケンス収集モードをサポート

キーサイトN4917DJCAソリューションは、ソフトウェアアプリケーション、M8050A 120 Gbaud高性能ビットエラーレートテスター、干渉源、光リファレンス送信機、光サンプリングオシロスコープ、波長可変レーザー光源、および光減衰器で構成されています。自動校正により、高い精度と再現性が保証され、手動操作と比較して校正および試験時間が大幅に短縮されます。

機能

• 100Gおよび200G / λ光インターフェースを備えた800Gおよび1.6Tモジュール向けストレス下光レシーバー特性評価に関するIEEE 802.3規格に準拠しています。
• IEEE 802.3条項124、167、140、151、180、181、182、および183（IEEE 802.3cn / cu / db / dfおよびdjプロジェクト）に記載されているテスト手順に従います。
• 必要なすべての計測器を自動化するターンキーソリューションを提供します。
• 光ストレスPAM4信号の再現性と安定した校正を保証します。
• 外部消光比、伝送および分散アイクロージャ、光変調振幅の調整可能な目標値を設定できます。

機能

• N4917DJCAソフトウェアにより、統合された計測器制御と設定を提供します。
• ストレス信号校正、レシーバー感度、ジッタ耐性測定を自動化します。
• 被試験デバイス制御およびスクリプトインターフェースを介して、カスタマイズされたデバイステストとレポート作成を可能にします。
• ユーザー定義の校正に対応する調整可能なストレスミックスが含まれています。
• お客様が定義したパラメータ設定に基づいた柔軟な校正を提供します。