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N7700210C ウエハープローバーTAPプラグイン
ウエハープローバーの制御をTAPテストシーケンスに簡単に統合し、集積フォトニクスのウエハーおよびチップスケールのテストを完全に自動化
スタート価格:
ハイライト
集積フォトニクス用の完全自動化ウエハー／チップ・スケール・テスト・ソリューション
TAPテストシーケンス内部でウエハープローバー制御を容易に統合
- 光／電気プローブのポジショニング／アライメント用のテストステップ
- アレイ／シングル・ファイバー・プローブ、エッジ／表面結合、RF/DCプローブをサポート、柔軟なプローブの向き（東西南北）
- 自動デバイスステッピング／プローバーのステータス制御
- 測定テストのプランニングとデバイスデータの管理（デバイス座標、デバイス・メタ・パラメータ、テスト条件のインポート／エクスポート／編集）
ウエハープローバーのサポート
Keysight Test Automation on PathWave(TAP)は最新のMicrosoft .NETベースのアプリケーションで、スタンドアロンでも、上位のテスト・エグゼクティブ・ソフトウェア環境と組み合わせても使用できます。測定器プラグインは、測定器レベルのプログラミングコマンドを使用しなくてもワークフローシーケンスに追加できるテストステップを提供します。N7700210C ウエハー・プローバー・プラグインを使用すれば、FormFactor社の半自動プローブ・ステーション・ハードウェア、FormFactor Veloxソフトウェア、シリコン・フォトニクス・ツールに対するインタフェースを制御して、さらに自動化を簡素化できます。テストステップは、ウエハーチャックの移動や、プローブのポジショニング／アライメントといった作業をテストプラン内で実行でき、測定器のテスト実行手順と組み合わせることができます。ポジショニングやRF/光プローブの設定に必要なウエハープローバーの設定はテストステップ内で提供されるので、容易な設定が可能です。
ウエハープローバーサンプルテスト計画とプローバーステップ
デバイス要素のリストと要素の光IOポート特性の例
Pathwaveテストオートメーションと集積フォトニクステストの詳細をご覧ください。
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N7700210C ウエハー・プローバー・プラグイン
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