HIGHLIGHTS

集積フォトニクス用の完全自動化ウエハー/チップ・スケール・テスト・ソリューション

TAPテストシーケンス内部でウエハープローバー制御を容易に統合

  • 光/電気プローブのポジショニング/アライメント用のテストステップ
  • アレイ/シングル・ファイバー・プローブ、エッジ/表面結合、RF/DCプローブをサポート、柔軟なプローブの向き(東西南北)
  • 自動デバイスステッピング/プローバーのステータス制御
  • 測定テストのプランニングとデバイスデータの管理(デバイス座標、デバイス・メタ・パラメータ、テスト条件のインポート/エクスポート/編集)

ウエハープローバーのサポート

KS8150A DMM Instrument PluginKeysight Test Automation on PathWave(TAP)は最新のMicrosoft .NETベースのアプリケーションで、スタンドアロンでも、上位のテスト・エグゼクティブ・ソフトウェア環境と組み合わせても使用できます。測定器プラグインは、測定器レベルのプログラミングコマンドを使用しなくてもワークフローシーケンスに追加できるテストステップを提供します。N7700210C ウエハー・プローバー・プラグインを使用すれば、FormFactor社の半自動プローブ・ステーション・ハードウェア、FormFactor Veloxソフトウェア、シリコン・フォトニクス・ツールに対するインタフェースを制御して、さらに自動化を簡素化できます。テストステップは、ウエハーチャックの移動や、プローブのポジショニング/アライメントといった作業をテストプラン内で実行でき、測定器のテスト実行手順と組み合わせることができます。ポジショニングやRF/光プローブの設定に必要なウエハープローバーの設定はテストステップ内で提供されるので、容易な設定が可能です。

Keysight-wafer-prober-sample-test-plan-with-prober-steps

ウエハープローバーサンプルテスト計画とプローバーステップ
 

List-of-device-elements-and-example-of-element-optical-IO-port-characteristics

デバイス要素のリストと要素の光IOポート特性の例
 

Pathwaveテストオートメーション集積フォトニクステストの詳細をご覧ください。

Free Trials

N7700210C Wafer Prober Plug-In

N7700210C Wafer Prober Plug-In

Interested in a N7700210C?

Want help or have questions?