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N7700210C 웨이퍼 프로버 TAP 플러그인
Easily integrate wafer prober control within TAP test sequences for fully automated wafer and chip scale test solution for Integrated Photonics
주요 특징
통합 광자를 위한 완전 자동식 웨이퍼 및 칩 규모 조정 테스트 솔루션
TAP 테스트 시퀀스 내 웨이퍼 프로버 컨트롤의 쉬운 통합
- 광학 및 전기 프로브 포지셔닝 및 정렬을 위한 테스트 단계
- 어레이 / 단일 광섬유 프로브, 에지 및 표면 커플링, RF/DC 프로브 및 유연한 프로브 방향(동/서/북/남) 지원
- 자동화된 디바이스 스테핑 및 프로버 상태 제어
- 측정 테스트 계획 및 디바이스 데이터 관리(디바이스 좌표, 디바이스 메타 매개변수 및 테스트 조건 가져오기 / 내보내기 /편집)
지원되는 웨이퍼 프로버
- Formfactor CM300xi와 Velox 소프트웨어 및 실리콘 광자 도구
최신 Microsoft .NET 기반 어플리케이션인 키사이트 PathWave 테스트 자동화(TAP)는 계측기 수준의 프로그래밍 명령 없이 계측기 플러그인을 통해 워크플로 시퀀스를 추가합니다. N7700210C 웨이퍼 프로버 플러그인은 Formfactor 반자동식 프로브 스테이션 하드웨어와 Formfactor Velox 및 실리콘 광자 도구 소프트웨어에 대한 인터페이스를 처리하여 자동화를 한층 더 간소화합니다. 테스트 단계가 계측기 테스트 이행 단계와 결합될 수 있는 테스트 계획 내에서 웨이퍼 척 이동, 프로브 포지셔닝, 정렬 작업을 실현합니다. 포지셔닝과 RF 및 광학 프로브에 대해 웨이퍼 프로버 설정을 쉽게 구성할 수 있습니다. 독립적으로 사용하거나 더 높은 수준의 테스트 실행 소프트웨어 환경과 함께 사용할 수 있도록 설계되었습니다.
키사이트의 웨이퍼 프로버 샘플 테스트 계획과 프로버 단계
디바이스 요소 목록 및 요소 광학 IO 포트 특성 예시
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N7700210C Wafer Prober Plug-In
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