HIGHLIGHTS

全自動晶圓和晶片級測試解決方案,支援整合式光學技術

可輕鬆將晶圓探測器控制功能整合到 TAP 測試序列中

  • 支援光學和電子探棒定位與校準的測試步驟
  • 支援陣列/單一光纖探棒、邊緣與表面耦合、射頻/直流探棒和靈活的探棒方向(東/西/北/南)
  • 自動裝置步進和探測器狀態控制
  • 量測測試計畫和裝置資料管理(匯入/匯出/編輯裝置坐標、裝置 meta 參數及測試條件)

支援的晶圓探測器

KS8150A DMM 儀器外掛軟體Keysight PathWave 測試自動化平台(TAP)是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體,可單獨使用,或是與高階測試執行軟體環境結合使用。您可將儀器外掛程式提供的測試步驟新增至工作流程序列,無需使用儀器級程式指令。N7700210C 晶圓探測器外掛軟體可處理 Formfactor 半自動探針台硬體與 Formfactor Velox & Silicon Photonics 工具軟體的介接,以進一步簡化自動化流程。您可透過測試步驟,了解測試計畫內的晶圓基座位移和探棒定位與校準作業,並可與儀器測試執行步驟完美結合。此外,您可輕鬆進行晶圓探測器定位設定配置,而射頻和光學探棒的配置,則包含在測試步驟中。

是德科技晶圓探測器樣本測試計畫和探測步驟

是德科技晶圓探測器樣本測試計畫提供探棒測試步驟

裝置元件清單和元件光學 IO 埠特性範例

裝置元件清單和元件光學 IO 埠特性範例

深入了解 PathWave 測試自動化軟體整合式光學測試

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N7700210C Wafer Prober Plug-In

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