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產品特性
全自動晶圓和晶片級測試解決方案，支援整合式光學技術
可輕鬆將晶圓探測器控制功能整合到 TAP 測試序列中
- 支援光學和電子探棒定位與校準的測試步驟
- 支援陣列/單一光纖探棒、邊緣與表面耦合、射頻/直流探棒和靈活的探棒方向（東/西/北/南）
- 自動裝置步進和探測器狀態控制
- 量測測試計畫和裝置資料管理（匯入/匯出/編輯裝置坐標、裝置 meta 參數及測試條件）
支援的晶圓探測器
- Formfactor CM300xi 搭配 Velox 軟體和 Silicon Photonics 工具
Keysight PathWave 測試自動化平台（TAP）是基於 Microsoft .NET 的現代化應用軟體，可透過儀器外掛軟體來增加工作流程序列，無需使用儀器級編程指令。 N7700210C 晶圓探測器外掛軟體可與 Formfactor 半自動探針台硬體和 Formfactor Velox & Silicon Photonics 工具軟體連接，以進一步簡化自動化流程。 您可透過測試步驟，了解測試計畫內的晶圓基座位移和探棒定位與校準作業，並可與儀器測試執行步驟完美結合。 此外，您可輕鬆進行晶圓探測器定位設定配置，以及射頻和光學探棒的配置。 可單獨使用，也可與更高階的測試執行軟體環境結合使用。
是德科技晶圓探測器樣本測試計畫和探測步驟
裝置元件清單和元件光學 IO 埠特性範例
Free Trials
N7700210C Wafer Prober Plug-In
N7700210C Wafer Prober Plug-In
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