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高效率的晶圓級測試
隨著資料速率不斷提高，支援資料中心基礎設施設計邊線和低能耗目標的光學元件，因而承受著巨大的壓力。 這個潮流推動了各種形式的元件整合。
- 整合式光子技術因此應運而生，它可整合各種光學元件，以便擴展並聯的光通道
- 光子積體電路（PIC）技術是將電子矽元件與光學元件整合並進行共同封裝的基礎
- 晶片製造商於是轉而銷售可進一步整合入多晶粒（multi-die）設計中的晶粒（而非封裝元件）。
- 對良品晶粒進行驗證
- 從長遠來看，元件經整合後，您可能無法存取元件以進行測試。 需開發新的多晶粒與整合式元件測試方法
是德科技提供完整的矽光子晶圓測試解決方案：
- 利用可調式雷射光源、偏振合成器、多埠功率錶，以及電源量測設備和應用軟體，執行波長和偏振相依量測
- 使用是德科技光波元件分析儀進行射頻測試
- 使用 FormFactor 探針台進行自動化晶圓探量
透過測試自動化加速運作
是德科技提供下列解決方案，可顯著減少測試時間和成本：
- KS8400A PathWave 測試自動化平台（TAP）可定義並執行測試方案和量測計畫
- 自動化光子應用套件，具 TAP 外掛程式
- 透過 N7700210C 晶圓探測器外掛程式進行自動化晶圓探針台控制
- 使用 N4370P01A LCA TAP 外掛程式自動執行 O/E 和 E/O 光波元件分析儀（LCA）量測
統包式晶圓生產測試
是德科技還提供下列解決方案，讓您能使用全自動晶圓探針台進行矽光子晶圓製造測試：
- 一次購足的整合式解決方案
- 自動化單次通過測試
- 為量產測試做好準備
- 高速率測試
- 有保證的系統效能
- 專屬的支援機型
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使用 TAP，簡化 LCA 射頻/光學自動化量測
可使用 PAS LS 引擎和 PAS IL/PDL 引擎進行偏振相關掃描波長多通道量測，而 PAS LS 引擎和 PAS FSIL 引擎則可在不改變偏振的情況下進行量測。
全自動晶圓和晶片級測試解決方案，支援整合式光學技術，可輕鬆將晶圓探測器控制功能整合到 TAP 測試序列中。
Test sequencer software with timing analyzer, result viewer, and other useful tools for test automation development.
可分析 PAS 量測引擎的插入損耗和偏振相關損耗頻譜，以便根據 ITU-T 定義，確定通帶濾波器元件的規格參數。 也可應用於 800 GHz LAN-WDM 網格。 還可確定濾波器帶通的偏振相關頻移。
透過 N7788C 和 PAS LS 引擎，對差動式群組延遲（DGD）和偏振模色散（PMD），以及 IL（也適用於 TE/TM 偏振）和 PDL 進行掃描波長量測。
透過 PAS LS 引擎和 PAS FSIL 引擎，支援快速掃描波長多通道量測。
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找到符合您需求的解決方案套件
是德科技提供極具吸引力的硬體/軟體/服務套件，可滿足您的特定需求：
S2501A 被動式光學元件測試工具套件（被動式，具調諧元件）
S2502A 光接收器元件測試工具套件（僅限直流）
S2503A 光接收器和調變器元件測試工具套件（直流和射頻）
S2504A 光調變器元件測試工具套件（直流和射頻）
S2505A 光雙偏振 IQ 調變器元件晶圓上測試（直流和射頻）
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