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高效率的晶圓級測試
隨著資料速率不斷提高，支援資料中心基礎設施設計邊線和低能耗目標的光學元件，因而承受著巨大的壓力。 這個潮流推動了各種形式的元件整合。
- 整合式光子技術因此應運而生，它可整合各種光學元件，以便擴展並聯的光通道
- 光子積體電路（PIC）技術是將電子矽元件與光學元件整合並進行共同封裝的基礎
- 晶片製造商於是轉而銷售可進一步整合入多晶粒（multi-die）設計中的晶粒（而非封裝元件）。
- 對良品晶粒進行驗證
- 從長遠來看，元件經整合後，您可能無法存取元件以進行測試。 需開發新的多晶粒與整合式元件測試方法
是德科技提供完整的矽光子晶圓測試解決方案：
- 利用可調式雷射光源、偏振合成器、多埠功率錶，以及電源量測設備和應用軟體，執行波長和偏振相依量測
- 使用是德科技光波元件分析儀進行射頻測試
- 使用 FormFactor 探針台進行自動化晶圓探量
透過測試自動化加速運作
是德科技提供下列解決方案，可顯著減少測試時間和成本：
- KS8400A PathWave 測試自動化平台（TAP）可定義並執行測試方案和量測計畫
- 自動化光子應用套件，具 TAP 外掛程式
- 透過 N7700210C 晶圓探測器外掛程式進行自動化晶圓探針台控制
- 使用 N4370P01A LCA TAP 外掛程式自動執行 O/E 和 E/O 光波元件分析儀（LCA）量測
統包式晶圓生產測試
是德科技還提供下列解決方案，讓您能使用全自動晶圓探針台進行矽光子晶圓製造測試：
- 一次購足的整合式解決方案
- 自動化單次通過測試
- 為量產測試做好準備
- 高速率測試
- 有保證的系統效能
- 專屬的支援機型
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使用 TAP，簡化 LCA 射頻/光學自動化量測
可使用 PAS LS 引擎和 PAS IL/PDL 引擎進行偏振相關掃描波長多通道量測，而 PAS LS 引擎和 PAS FSIL 引擎則可在不改變偏振的情況下進行量測。
全自動晶圓和晶片級測試解決方案，支援整合式光學技術，可輕鬆將晶圓探測器控制功能整合到 TAP 測試序列中。
可實現測試自動化開發的測試排序軟體和時序分析儀、結果檢視器，以及其他實用的工具。
可分析 PAS 量測引擎的插入損耗和偏振相關損耗頻譜，以便根據 ITU-T 定義，確定通帶濾波器元件的規格參數。 也可應用於 800 GHz LAN-WDM 網格。 還可確定濾波器帶通的偏振相關頻移。
透過 N7788C 和 PAS LS 引擎，對差動式群組延遲（DGD）和偏振模色散（PMD），以及 IL（也適用於 TE/TM 偏振）和 PDL 進行掃描波長量測。
透過 PAS LS 引擎和 PAS FSIL 引擎，支援快速掃描波長多通道量測。
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是德科技提供極具吸引力的硬體/軟體/服務套件，可滿足您的特定需求：
S2501A 被動式光學元件測試工具套件（被動式，具調諧元件）
S2502A 光接收器元件測試工具套件（僅限直流）
S2503A 光接收器和調變器元件測試工具套件（直流和射頻）
S2504A 光調變器元件測試工具套件（直流和射頻）
S2505A 光雙偏振 IQ 調變器元件晶圓上測試（直流和射頻）
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