商展
以分析為導向的設計。自信地進行驗證。
歡迎蒞臨德州聖安東尼奧市舉辦的 2026 年國際測試與失效分析研討會（ISTFA），與是德科技共襄盛舉。屆時，工程師與失效分析專家將齊聚一堂，共同探討微電子測試、除錯及可靠性領域的最新進展。
以今年的主題「為分析而設計」為核心，ISTFA 匯聚了工程師與業界專家，共同分享針對當今半導體設計與可靠性挑戰的實務見解與新興方法。
探索用於調查故障、驗證設計以及改善測試工作流程的實用技巧。
會議亮點
歡迎蒞臨第 721 號攤位參觀是德科技
透過現場示範，探索能協助加速除錯、簡化故障分析，並讓您充滿信心地驗證設計的解決方案，內容包含：
預約產品示範。獲贈免費展覽通行證。
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立即預約產品示範，並蒞臨我們的721 號攤位。
微電子工程師、半導體設計人員、失效分析專家、可靠性工程師、測試工程師、研究人員，以及任何負責元件特性分析、除錯、驗證或產品品質的人員。